GGB射頻/微波探針產(chǎn)品特點：

（1）美國GGB原廠

（2）可以提供普通款和無磁款（適用在磁場中）

（3）深圳工廠常年備有庫存，常用型號一般有現(xiàn)貨

（4）詳細(xì)指標(biāo)：

測試頻率范圍：  DC to 40 GHz

輸入衰減  ≤ 0.8db

反射損耗≧ 18 db

腳間距:25 to 2540um可選（腳間距越大 ， 損耗越嚴(yán)重）

測試重復(fù)性優(yōu)于-80db

單獨彈簧加載觸點設(shè)計

材質(zhì)：  BeCu , Tungsten or Nickel tips available

GSG ， SG ， SG ， GSGSG 等可選

同軸設(shè)計

（5）選型規(guī)則

Example：   40A-GSG-150-P 代表頻率到 40G ， GSG 三個端口 ， 其中 G 與 S 之間的腳間距是 150um ， 外形是 P 型。

Model 40- （端口）  - （間距）  -（外形），其中，外形可選。

GGB射頻/微波探針

優(yōu)測國芯電子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半導(dǎo)體和自動化設(shè)備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術(shù)企業(yè)。我們集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)于一體，不僅擁有*的生產(chǎn)設(shè)備、*加工工藝及品質(zhì)檢測體系，也擁有涉及材料、物理、化學(xué)、微電子、機(jī)械等專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊?，F(xiàn)在主營的產(chǎn)品有：4寸、6寸、8寸、12寸手動探針臺、高壓大功率探針臺、真空高低溫探針臺，半自動探針臺，全自動探針臺等，可以完成I-V/C-V測試，脈沖I-V測試，RF/mmW測試，高壓、大電流測試，MEMS、光電器件等測試。專業(yè)的設(shè)計人員也可以按客戶的要求量身定制，如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽能發(fā)生器、多普勒測試儀、積分球等，在常規(guī)探針臺功能上進(jìn)行延伸拓展來滿足不同客戶的測試需求。