ThermoScientific™Nexsa™X射線光電子能譜儀(XPS)系統(tǒng)在提供全自動、高通量的多技術(shù)分析的同時，保持研究級的高質(zhì)量分析檢測結(jié)果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多種分析技術(shù)于一身，用戶因此能夠進行真正意義上的聯(lián)合多技術(shù)分析，從而為微電子、超薄薄膜、納米技術(shù)開發(fā)以及許多其他應(yīng)用進一步取得進展釋放潛能。  

射線光電子能譜儀描述：

材料分析和開發(fā)  

Nexsa能譜儀具有分析靈活性，可最大限度地發(fā)揮材料潛能。在使結(jié)果保持研究級質(zhì)量水平的同時，以可選多技術(shù)聯(lián)合的形式提供靈活性，從而實現(xiàn)真正意義上多技術(shù)聯(lián)合的分析檢測和高通量。  

標準化功能催生強大性能：  

·絕緣體分析  

·高性能XPS性能  

·深度剖析  

·多技術(shù)聯(lián)合  

·雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴展  

·用于ARXPS測量的傾斜模塊  

·用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告生產(chǎn)的Avantage軟件  

·小束斑分析  

可選的升級：可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測分析中。式自動運行  

·ISS：離子散射譜，分析材料最表面1-2原子層元素信息，通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息。  

·UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導體材料的價帶能級結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息  

·拉曼：拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息  

·REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結(jié)構(gòu)和帶隙信息  

SnapMap  

借助SnapMap的光學視圖，聚焦于樣品特征。光學視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域，同時生成*聚焦的XPS圖像，以進一步設(shè)置您的實驗。  

1.X射線照射樣品上的一個小區(qū)域。  

2.收集來自這一小區(qū)域的光電子并將其收集于分析儀  

3.隨著樣品臺的移動，不斷收集元素圖譜  

4.在整個數(shù)據(jù)采集過程中監(jiān)測樣品臺位置，這些位置的圖譜成像用來生成SnapMap  

應(yīng)用領(lǐng)域  

·電池  

·生物醫(yī)藥  

·催化劑  

·陶瓷  

·玻璃涂層  

·石墨烯  

·金屬和氧化物  

·納米材料  

·OLED  

·聚合物  

·半導體  

·太陽能電池  

·薄膜