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表面污染測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
PAM系列表面污染測(cè)量?jī)x為便攜手持式設(shè)備，配備閃爍體探測(cè)器，用于α、β和γ放射性核素的表面活度測(cè)量。
半導(dǎo)體式表面污染測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
NHJ2表半導(dǎo)體式表面污染測(cè)量?jī)x用于測(cè)量α、β和γ，采用硅半導(dǎo)體探測(cè)器。該儀表小巧輕便且探測(cè)效率高，且具有自檢、通信、存儲(chǔ)等豐富的功能。
表面污染測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
表面污染測(cè)量?jī)x新型塑料閃爍體探測(cè)器，不用充氣，可同時(shí)測(cè)量α和β/γ，無(wú)需外加探頭，β/γ本底監(jiān)測(cè)與補(bǔ)償，報(bào)警閾值連續(xù)可設(shè)。
擦拭樣品計(jì)數(shù)器 參考價(jià)：面議
WIMP60M擦拭樣計(jì)數(shù)器可以檢測(cè)擦拭污染樣品或者氣溶膠濾紙表面，儀器可測(cè)量直徑60 mm的試紙。區(qū)分α、β/γ輻射類型。采用新探測(cè)技術(shù)，無(wú)需充氣。儀器采用Zn...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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