菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀

菲希爾X射線測(cè)厚儀樣品定位簡便的特點(diǎn)：

菲希爾X射線測(cè)厚儀XDLM-PCB 200型：首先PCB板將在儀器集成的激光點(diǎn)的協(xié)助下準(zhǔn)確放置于樣品臺(tái)上。然后將樣品臺(tái)如抽屜般推入儀器內(nèi)部。

菲希爾X射線測(cè)厚儀XDLM-PCB210和220：儀器配備了高精度、可編程的XY平臺(tái)，并帶有彈出功能。激光點(diǎn)作為輔助定位，能幫助快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置。

高分辨彩色攝像頭，使得對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置的過程更加準(zhǔn)確。簡便。

通過強(qiáng)大且界面友好的WINFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測(cè)量過程，包括測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有的相關(guān)信息的顯示等。

X-RAY XDLM-PCB系列儀器符合DIN ISO 3497和ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)。

應(yīng)用領(lǐng)域：

1. 鐘表，首飾，眼鏡

2. 汽車及緊固件

3. 衛(wèi)浴五金

4. 連接器

5. 化學(xué)藥水

6. 通信

7. 半導(dǎo)體封裝測(cè)試

8. 電子元器件

9. PCB