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原子吸收光譜法中背景干擾的校正方法

閱讀:1399        發(fā)布時間:2015-6-23

    在原子吸收光譜儀分子中背景干擾常常是樣品池中多原子狀態(tài)物質對光源輻射的吸收或產生散射引起的。石墨爐原子化法的背景吸收遠遠大于火焰法。校正背景干擾常用的方法是使用氘燈扣除背景。

    1 用鄰近非共振線校正背景

    用分析線測量原子吸收與背景吸收的總吸光度,因非共振線不產生原子吸收,用它來測量背景吸收的吸光度,兩次測量值相減即得到校正背景之后的原子吸收吸光度。

    2 連續(xù)光源校正背景

    先用銳線光源測定分析線的原子吸收和背景吸收的總吸光度,再用氘燈或碘鎢燈、氙燈在同一波長測定背景吸收,計算兩次測定吸光度之差,即可使背景吸收得到校正,由于商品原子吸收光譜儀多采用氘燈作為連續(xù)光源扣除背景,故此法也被稱為氘燈扣除背景法。

    3塞曼效應校正背景

    塞曼效應校正背景是基于光的偏振特性,分為兩大類:光源調制法和吸收線調制法。以后者應用廣泛。調制吸收線的方式,有恒定磁場調制方式和可變磁場調制方式。

    4 自吸效應校正背景

    自吸效應校正背景法是基于高電流脈沖供電時空心陰極燈發(fā)射線的自吸效應。當以低電流脈沖供電時,空心陰極燈發(fā)射銳線光譜,測定的是原子吸收和背景吸收的總吸光度。接著以高電流脈沖供電,空心陰極燈發(fā)射線變寬,當空心陰極燈內積累的原子濃度足夠高時,發(fā)射線產生自吸,在的情況下出現譜線自蝕,這是測定的是背景吸收的吸光度。上述2中脈沖供電條件下測得的吸光度之差,便是校正了背景吸收的凈原子吸收的吸光度。

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