HED-W5100D 全自動晶圓ESD測試機 參考價：面議
ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5100D 全...
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備 參考價：面議
目前，對于半導體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對于在以往的TLP測試機無法完成的高電壓?大電流的特性測試，在TLP傳輸線脈沖測試儀上得以實現(xiàn)、并有...
HANWA HED-C5000R CDM測試設備 參考價：面議
CDM測試儀,CDM測試設備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設備
全自動芯片ESD測試設備 參考價：8000000
Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備近年來，自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術，解決自動駕駛技術的關鍵在于...
HED-N5000 全自動ESD測試系統(tǒng) 參考價：面議
芯片ESD測試設備，HED-N5000 全自動ESD測試系統(tǒng)，ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的...
ESD測試機 參考價：面議
芯片ESD測試設備,HANWA HCE-5000ESD測試機是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的生產(chǎn)過程中的質量保證都是...
ZEISS 光學微光顯微鏡 參考價：面議
emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學微光顯微鏡產(chǎn)品特點：具有優(yōu)化的操作理念。擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學系統(tǒng)。 基于“向前看"理念的升級設計。
掃描電鏡 參考價：面議
掃描電鏡擁有高品質成像和先進分析功能的場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產(chǎn)品將場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術與良好的用戶體驗緊密地結合在一起。
半導體場發(fā)射掃描電鏡 參考價：面議
GeminiSEM 560 引進了 Gemini 3 型鏡筒，創(chuàng)下了表面成像技術新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動光路調節(jié)引擎是為方便您...
半導體光學/共聚焦顯微鏡 參考價：面議
半導體光學/共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。
德國進口晶圓光學檢測設備 參考價：面議
德國進口晶圓光學檢測設備憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。
芯片封裝焊接強度測試儀 參考價：面議
芯片封裝焊接強度測試儀憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。
HANWA ESD測試全部設備簡介 參考價：面議
ESD測試設備,芯片ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質量保證都是不可少的。HE...
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