IT8513G+ 高性能可編程直流電子負(fù)載
電池放電測試功能
IT8500G+系列可使用恒流模式來進(jìn)行電池放電測試。在選擇放電測試模式后，可設(shè)置測試模式終止條件“關(guān)斷電壓值"、“ 關(guān)斷容量值"和“放電時間",當(dāng)三者中任意一種條件滿足,則放電停止,電子負(fù)載自動切換為OFF狀態(tài)。在測試過程中可以觀測電池的電壓，時間和電池已放電容量。
動態(tài)測試功能
動態(tài)測試操作能夠根據(jù)設(shè)定規(guī)則使電子負(fù)載在兩種設(shè)定參數(shù)之間切換，此功能用來測試電源的動態(tài)特性。
OCP/OPP測試功能
IT8500G+系列具有過功率保護(hù)(OPP)和過電流保護(hù)(OCP)測試功能。以OPP測試模式為例,當(dāng)輸入電壓達(dá)到Von值時，負(fù)載開始以定功率模式帶載，且每隔一定時間按固定步進(jìn)值遞增帶載功率，同時根據(jù)OPP電壓值來檢測判斷負(fù)載輸入電壓是否高于OPP判斷電壓值。如果高于則繼續(xù)按照程序設(shè)定遞增帶載功率,直至運(yùn)行到截止功率值或觸發(fā)了電源的OPP保護(hù)。此外，1T8500G+負(fù)載能夠?qū)^功率測試結(jié)果進(jìn)行比較，以判斷DUT的過功率點(diǎn)是否在設(shè)計(jì)范圍內(nèi)，而無需人工的判斷，提升測試效率。
遠(yuǎn)端量測功能
在CC/CV/CR/CW模式下，當(dāng)電子負(fù)載消耗較大電流的時候，就會在被測儀器到負(fù)載端子的連接線產(chǎn)生較大壓降。為了保證測量精度，電子負(fù)載在后面板提供了一個遠(yuǎn)程量測端子，用戶可以用該端子來測量被測儀器的輸出端子電壓。
IT8513G+ 高性能可編程直流電子負(fù)載
電壓/電流紋波量測功能
紋波是開關(guān)電源必測的項(xiàng)目之一，紋波過大會對待測物造成干擾或影響DUT 的使用壽命。IT8500G+ 系列提供紋波量測功能，量測帶寬高達(dá)300kHz，滿足開關(guān)電源或充電器的紋波測量。用戶可配合remote sense 功能，消除線上壓降帶來的量測影響。通過前面板的向下按鍵，可直接讀取待測物的電壓紋波值（Vpp/Vp+/Vp-）和電流紋波值（Ipp/Ip+/Ip-），無需額外的示波器，極大的簡化了您的實(shí)驗(yàn)接線和操作。
內(nèi)置豐富的快充協(xié)議
隨著手機(jī)功能越來越多，對于電池電量的消耗也越來越快，而快充的發(fā)展則有力提升了用戶的產(chǎn)品體驗(yàn)。IT8500G+ 系列內(nèi)置豐富的快充協(xié)議（QC2.0、QC3.0、PE+、PE2.0+、USB PD2.0、U SB PD3.0、F CP、SCP），滿足用戶對于不同充電協(xié)議適配器的測試。用戶可通過菜單快速切換充電協(xié)議，搭配自動測試模式，可實(shí)現(xiàn)對快充適配器的空載電壓，短路電流，及恒壓恒流不同充電階段的性能驗(yàn)證。
* 此功能僅IT8511G+具備
專業(yè)多通道模式，降低ATE集成成本
多通道模式是 IT8500G+ 系列專為優(yōu)化系統(tǒng)集成而研發(fā)設(shè)計(jì)的，利用多通道模式，系統(tǒng)集成商可以輕松實(shí)現(xiàn)數(shù)十至上百通道的硬件平臺組建，在簡化通信線連接的情況下，還為每套系統(tǒng)節(jié)省昂貴的通信模塊以及通信接口擴(kuò)展卡（如 USB hub，多串口卡或交換機(jī)）等測試成本。IT8500G+ 的多通道模式，允許最多級聯(lián) 16 臺設(shè)備，意味著每 16 臺負(fù)載設(shè)備只需一根通信線與 PC 連接。假設(shè)以 60 通道的老化系統(tǒng)測試為例，使用 IT8500G+ 的多通道模式，可以節(jié)省 8 臺擴(kuò)展交換機(jī)的成本，為企業(yè)提供高效的自動化測試解決方案。
技術(shù)參數(shù)
