步入式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)是一款人工仿真環(huán)境試驗(yàn)箱，可模擬高溫環(huán)境、低溫環(huán)境、高低溫交變環(huán)境、干冷環(huán)境、濕熱環(huán)境等。廣泛適用于航天工業(yè)，PCB基板，電子芯片IC，半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測(cè)試工具；電子電器零組件，金屬，化學(xué)材料，自動(dòng)化零部件，通訊組件，國(guó)防工業(yè)，之物理性變化的理想測(cè)試工具。
步入式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)
產(chǎn)品名稱：步入式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)
型號(hào)：DR-H202
內(nèi)尺寸：4m3、8m3、10m3、15m3、20m3、25m3、30m3、40m3（其他尺寸可定制）
溫度范圍T:-20、F:-40、S:-70～80℃/150℃
試樣限制本試驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)；儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)、儲(chǔ)存生物的試驗(yàn)、儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
供電條件和電源
符合標(biāo)準(zhǔn)：
1.GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
3. GJB150.3A－2009高溫試驗(yàn)方法
4. GJB150.4A－2009低溫試驗(yàn)方法
5.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
6.GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3)試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
7.GJB150.9A-2009濕熱試驗(yàn)方法
8.G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005試驗(yàn)Db:交變濕熱方法
9.GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
10.GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3￠380VAC±10%,50Hz 三相四線制N +保護(hù)接地
電壓允許波動(dòng)范圍：10%
保護(hù)地線接地電阻小于4Ω
要求用戶在安裝現(xiàn)場(chǎng)為設(shè)備配置相應(yīng)容量的空氣或動(dòng)力開(kāi)關(guān)，并且此開(kāi)關(guān)必須獨(dú)立控制本設(shè)備使用
