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怎樣測試多種導(dǎo)電材料介質(zhì)（電阻）的阻值隨溫度的變化值
閱讀：289 發(fā)布時(shí)間：2024-3-15
型號：VXMGZ-I
該儀器采電子、數(shù)控方法，用于測試多種導(dǎo)電材料介質(zhì)（電阻）的阻值隨溫度變化的值，通過繪制電阻，溫度由線，可定性分析電阻溫度變化率。其主要適用于大專院校電子材料實(shí)驗(yàn)室等的研究和教學(xué)演示用。
技術(shù)指標(biāo)：
試樣大小可對￠40以上或10×10×10mm的PTC樣品進(jìn)行R-T特性試驗(yàn)；
溫度范圍：室溫-300℃
控溫精度：±1℃；
電阻范圍：0.01Ω-10^15Ω
加熱功率：0-300W可調(diào)
環(huán)境溫度：0-40℃
環(huán)境濕度：≤85%
工作電源：220V 50Hz
機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動PTD調(diào)節(jié)，曲線CRT顯示，數(shù)據(jù)存儲或打印。