怎樣測試多種導(dǎo)電材料介質(zhì)(電阻)的阻值隨溫度的變化值
閱讀:289 發(fā)布時(shí)間:2024-3-15
型號:VXMGZ-I
該儀器采電子、數(shù)控方法,用于測試多種導(dǎo)電材料介質(zhì)(電阻)的阻值隨溫度變化的值,通過繪制電阻,溫度由線,可定性分析電阻溫度變化率。其主要適用于大專院校電子材料實(shí)驗(yàn)室等的研究和教學(xué)演示用。
技術(shù)指標(biāo):
試樣大小可對¢40以上或10×10×10mm的PTC樣品進(jìn)行R-T特性試驗(yàn);
溫度范圍:室溫-300℃
控溫精度:±1℃;
電阻范圍:0.01Ω-10^15Ω
加熱功率:0-300W可調(diào)
環(huán)境溫度:0-40℃
環(huán)境濕度:≤85%
工作電源:220V 50Hz
機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動PTD調(diào)節(jié),曲線CRT顯示,數(shù)據(jù)存儲或打印。