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貴金屬檢測儀XF-S7產(chǎn)品介紹

XF-S7貴金屬成分無損檢測儀是西凡儀器面向貴金屬成分無損檢測的一款高配置X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于珠寶首飾工廠、展廳以及回收、銀行、海關(guān)、檢測中心等行業(yè)和單位。該產(chǎn)品采用目前進口Fast-SDD探測器，自帶IPS液晶屏及電容觸摸屏，內(nèi)置四核CPU定制XRF工控電腦，采用全新的垂直光路。檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準確性高。

貴金屬檢測儀XF-S7產(chǎn)品特點

元素檢測范圍：鉀K～鈾U          

可支持最多30個元素同時計算

分析范圍：0.01%～99.99%

檢測精度：±0.01%(999金)

檢測樣品：固體/液體/粉末

定制TCP/IP協(xié)議API接口，支持外網(wǎng)對設備的控制、狀態(tài)監(jiān)控及數(shù)據(jù)采集

支持多點連續(xù)測試，測試效率高

內(nèi)置ARM四核XRF專用電腦+Linux系統(tǒng)，無懼木馬和病毒軟件

9.7寸IPS液晶屏+電容觸摸屏

多準直器自動切換

多濾光片自動切換

軟件對焦樣品測試高度，算法補償測試距離

?0.5mm準直器支持凹位樣品檢測

選裝10工位轉(zhuǎn)盤，自動連續(xù)測試10個樣品

貴金屬檢測儀XF-S7產(chǎn)品規(guī)格

輸入電壓：AC100～240V，50Hz

產(chǎn)品包裝尺寸：770mm x 510mm x 400mm

產(chǎn)品尺寸：455mm x 345mm x 350mm

樣品艙尺寸：306mm x 248mm x 124mm

額定功率：<150W

毛重：53KG

凈重：38KG

噪音：50dB

使用環(huán)境：

溫度：

濕度：<70%（不結(jié)露）

貴金屬檢測儀XF-S7核心部件

探測器：AMPTEK定制版Fast-SDD探測器

內(nèi)置工控電腦：NXP IMX8四核Cortex-A53 XRF專用電腦

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鈹窗

靶材：鎢

焦點：? 0.1mm

準直器：?0.5mm/ ?1.5mm

貴金屬檢測儀XF-S7檢測實例