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測厚儀研制的關(guān)鍵問題
閱讀：3100發(fā)布時間：2010-3-22
往返時間的測量有以下三種方法：
（1）測量發(fā)射波T與*次底波B1之間的時間;
（2）測量*次底波B1與第二次底波B2之間的時間;
（3）測量其后任意兩相鄰波之間的時間。
以上三種測量方式的選擇可以通過不同的電路來實現(xiàn)，但它們對儀器的性能有很大的影響。如果選擇*種測量方法，則因發(fā)射脈沖幅度特別大，且種測量方法，由于脈寬窄，能探測薄的材料，此時若用高頻探頭（10MHz），就能探測更薄的材料，因而拓寬了儀器測量下限。如果選擇第三種測量方法，效果和第二種不相上下，但數(shù)據(jù)采集較困難，且雜波較多。第二和第三種測量方法的測量電路較復雜，成本較高。我們在研制過程中，考慮到量程要求，采用了第二種測量方法。為了方便實現(xiàn)電路，我們在發(fā)射超聲波的同時設計了一個計數(shù)門，由門脈沖控制計數(shù)的起始位置。
廣州蘭泰儀器有限公司主營產(chǎn)品：穿透涂層超聲波測厚儀-多功能推拉力計-多模式超聲波測厚儀
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