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1. 二極管測量
如果被測物體是二極管，在陽極和陰極之間連接設(shè)備驅(qū)動電源，設(shè)定施加電壓的最大值Vmax和最小值Vmin，電源會自動將它們之間的電壓調(diào)整到某個頻率50Hz 至 60Hz 掃頻。另外，測量此時流過二極管的電流。
另一方面，CRT的水平掃描電路使用驅(qū)動半導體器件的電源電壓作為輸入信號，垂直掃描電路使用流過二極管的電流作為輸入信號，使得電流可以在CRT上表示相對于施加電壓的特性(VI特性)。
2. 晶體管測量
對于雙極晶體管/FET 測量，使用階躍發(fā)生器的電流/電壓源連接到基極/柵極。在發(fā)射極/源極和集電極/漏極之間連接器件驅(qū)動電源，并設(shè)置施加電壓的最大值Vmax和最小值Vmin。
對于雙極晶體管
，可以通過使用階躍發(fā)生器分階段改變基極電流并在CRT上顯示發(fā)射極-集電極電壓和集電極電流來繪制晶體管的靜態(tài)特性曲線。
對于 FET：
當使用步進發(fā)生器逐步改變柵極電壓時，會繪制 FET 的靜態(tài)特性曲線，顯示源漏電壓和漏電流之間的關(guān)系。
