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天津瑞利光電科技有限公司
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Sarspec光譜儀X-RES

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產(chǎn)品型號

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地天津市

更新時間:2025-03-25 09:48:02瀏覽次數(shù):145次

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X-RES 是那些需要高分辨率性能的光譜儀的理想之選,它能夠解析準(zhǔn)確度達(dá) 0.05 nm (FWHM) 的緊密排列光譜特征。X-RES 安裝在堅固緊湊的光學(xué)臺上,焦距為 100 mm,能夠在工作波長范圍內(nèi)提供高的性能和靈敏度以及較大的峰值對稱性,這使得該系列光譜儀成為高分辨率應(yīng)用的解決方案。

產(chǎn)品名稱:Sarspec光譜儀X-RES

產(chǎn)品型號:X-RES 1

產(chǎn)品介紹

X-RES 是那些需要高分辨率性能的光譜儀的理想之選,它能夠解析準(zhǔn)確度達(dá) 0.05 nm (FWHM) 的緊密排列光譜特征。X-RES 安裝在堅固緊湊的光學(xué)臺上,焦距為 100 mm,能夠在工作波長范圍內(nèi)提供的性能和靈敏度以及較大的峰值對稱性,這使得該系列光譜儀成為高分辨率應(yīng)用的解決方案。

用戶可更換狹縫和光學(xué)濾光片、電源狀態(tài)指示器和觸發(fā)功能等功能可將此光譜儀集成到您的設(shè)置中。X-RES 提供即用型(適用于更常見的應(yīng)用)和用戶自定義(適用于更具體的應(yīng)用)配置,適用于窄 UV-Vis 和 Vis-NIR 范圍以及擴展的 UV-Vis-NIR 范圍。

性能特點

非常適合高分辨率應(yīng)用

用戶可更換狹縫和光學(xué)濾光片

光學(xué)分辨率低至 0.05 nm (FWHM)

改進(jìn)的光學(xué)設(shè)計 - 焦距為 100 mm

附帶 LightScan 軟件

選型指南

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)地:葡萄牙

操作范圍:185-1100 nm(分為 8 個操作范圍)

聚光透鏡:可選(包括在靈敏度提高的版本中)

光纖連接器:SMA 905

觸發(fā)器:輸入/輸出

狹縫尺寸:10 μm(可更換)

探測器:3648 元件Toshiba

集成時間:3ms-214s

軟件:LightScan(包含)

光柵:根據(jù)所選范圍

光學(xué)分辨率:0.05 至 0.1 nm

接口:Mini-USB

產(chǎn)品應(yīng)用

X-RES 是一款具有高分辨率性能的光譜儀,能夠滿足您的高分辨率應(yīng)用的所有要求。

用戶可更換的狹縫和光學(xué)濾光片功能允許您設(shè)置 X-RES 以進(jìn)行更靈敏的測量。這種靈活性與改進(jìn)的靈敏度相結(jié)合,使該系統(tǒng)成為那些高分辨率應(yīng)用的解決方案,例如激光器和 LED 的波長特性、監(jiān)測校準(zhǔn)源的光譜發(fā)射線或確定元素原子發(fā)射線。


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