目錄:憶璽智能科技（杭州）有限公司>>光電實(shí)驗(yàn)實(shí)訓(xùn)>>應(yīng)用光譜學(xué)實(shí)訓(xùn)>> ROT-OS09 # 工位九、薄膜測(cè)厚工位
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更新時(shí)間：2025-05-28 08:26:12瀏覽次數(shù)：234評(píng)價(jià)
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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ROT-OS09 # 工位九、薄膜測(cè)厚工位簡(jiǎn)介
在薄膜材料、玻璃制造等多個(gè)行業(yè)里，薄膜的在線測(cè)量不可少。薄膜測(cè)厚是光電技術(shù)中‘算法密集型’的應(yīng)用，應(yīng)用了光譜預(yù)處理方法、回歸算法和傅立葉變換信號(hào)處理等處理方法。學(xué)生在此工位中通過搭建薄膜測(cè)厚的光路，跟隨流程，了解如何從大量的數(shù)據(jù)中，去除干擾，得到所需要測(cè)量的關(guān)鍵值的方法。
ROT-OS09 # 工位九、薄膜測(cè)厚工位實(shí)訓(xùn)內(nèi)容
學(xué)習(xí)和掌握白光干涉測(cè)定薄膜厚度的基本原理；
使用擬合算法測(cè)量單層MgF2增透膜和鍍膜硅片的膜厚；
使用快速傅立葉變換算法測(cè)量PET薄膜的厚度；
自建薄膜樣品的測(cè)量方法。
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