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# 2024年新品發(fā)布會#
日期：2024年9月29日
時間：8：30-18：30
近期我司新推出升級了SHASHIN寫真化學(xué)原裝供應(yīng)紅外透射膜厚儀
紅外透射膜厚度監(jiān)測器可測量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。 它是一種紅外吸收涂層測厚儀，可應(yīng)用于從實驗室級別到生產(chǎn)過程中的在線檢查的所有情況。
它是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過同時測量 100 多個波長的光譜儀，準(zhǔn)確測量薄膜厚度、密度、成分等多個參數(shù)。
1測量半透明片材、
低反射膜、硅等的厚度，這在光學(xué)干涉測量法中是困難的
2微型光纖探頭
由于使用了 30 毫米的小型反射探頭，
它可以安裝在設(shè)備或生產(chǎn)線的狹小空間內(nèi)。
此外，由于探頭僅通過
光纖連接到主機(jī)，因此具有出色的耐環(huán)境性。
3高速測量：
在
100 個點或更高處同時采樣 950~1650 nm 的近紅外波長
可實現(xiàn)短至 1 毫秒的高速采樣。
可以在生產(chǎn)線上進(jìn)行實時檢測和測量。
由于干涉濾光片不旋轉(zhuǎn)，因此具有出色的耐用性和可靠性。
