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全基因組雜交SNP芯片研究解決方案手冊(cè)

閱讀:68      發(fā)布時(shí)間:2025-01-24
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細(xì)胞遺傳學(xué)技術(shù)的進(jìn)步為臨床研究人員研究拷貝數(shù)變異(CNV)、染色體不平衡和等位基因不平衡等染色體畸變提供了強(qiáng)有力的新方法。然而,核型分析、光學(xué)基因組圖譜(OGM)、全外顯子組測(cè)序(WES)、全基因組測(cè)序(WGS)和低分辨率微陣列等檢測(cè)方法在基因組覆蓋范圍、內(nèi)容或分辨率方面都有所不足,而這些不足可能會(huì)導(dǎo)致染色體變異研究漏檢、延誤或成本增加。覆蓋整個(gè)基因組多態(tài)性和非多態(tài)性區(qū)域的基因芯片能夠以明顯高于傳統(tǒng)方法的分辨率評(píng)估DNA拷貝數(shù)變異,從而彌補(bǔ)其他細(xì)胞遺傳學(xué)分析技術(shù)的部分缺點(diǎn)。

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賽默飛世爾科技(中國(guó))有限公司

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