72DL  PLUS 超聲測厚儀

高速度、高效率、高精度

厚度測量達到實驗室質(zhì)量水平，

堅固耐用適用于生產(chǎn)車間

奧林巴斯超聲測厚儀 72DL PLUS小巧便攜、易于使用，可以提供精確的厚度測量值。該測厚儀具備快速掃查、高級算法和奧林巴斯迄今為止測量至低的最小厚度的能力，可使您充滿信心地測量超薄層的厚度，完成具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。

奧林巴斯超聲測厚儀 72DL PLUS提供標準頻率和高頻率兩種型號。高頻率型號可以測量超薄材料，包括多層漆料、塑料、金屬和涂 層，其多層測量軟件可以同時顯示最多六個獨立層的厚度。所有72DL PLUS型號都具有快速、準確測量厚度的功能。

• 數(shù)字濾波器可實現(xiàn)出色的信噪比，以準確地測量噪聲材料（如玻璃纖維）

• 高分辨率觸摸屏易于使用，可從不同視角觀看

• PC Interface Application（PC機接口應(yīng)用程序）集成了您的工作流程、檢測管理、報警和數(shù)據(jù)分析

與探頭配套使用，完成廣泛的應(yīng)用 

• 可與頻率高達125 MHz的奧林巴斯單晶超聲探頭相兼容

• 標準頻率型號的測厚儀可與頻率范圍在0.2–30 MHz的探頭配套使用，高速測量材料厚度，并快速提供測量結(jié)果

• 高頻率型號的測厚儀可與頻率范圍在20–125 MHz的探頭配套使用，測量超薄和多層材料

可測量多達6層的多層漆料、塑料和其他材料

多層測量軟件提供多達6層的多層厚度測量功能。每層的測量設(shè)置，包括材料、聲速、目標厚度范圍和報警閾值，都可以通過配置工作流程和觸摸屏控制輕松訪問。

借助多樣化測量布局，跟蹤和顯示厚度變化

A掃描        B掃描        A/B掃描

趨勢圖             放大圖

所有型號的72DL PLUS測厚儀都包括5種測量布局，因此可以準確地跟蹤和顯示被測材料的厚度變化。

完成許多應(yīng)用中的厚度測量

72DL PLUS測厚儀性能可靠，可進行高質(zhì)量的測量，滿足不同行業(yè)中的各種應(yīng)用，其中包括：

自動檢測漆層厚度

充滿信心地對最多6層材料進行測量，檢測屏幕上顯示單個層的測量值

醫(yī)用管子

對非常薄的材料進行精確的厚度測量，提高了質(zhì)量控制水平

渦輪葉片

對具有復雜幾何形狀的材料進行更快的掃查和可重復的測量

復合材料上的漆層

在測量復合材料上的多層涂漆時，表現(xiàn)出很高的測量準確性和可重復性

選擇能滿足您需要的型號

根據(jù)您的應(yīng)用，您可以選擇標準頻率型號、高頻率型號和多層測量軟件選項。

標準頻率型號：使用頻率范圍在0.2到30 MHz的單晶探頭高速進行可靠的厚度測量

（2 kHz測量速度，A掃描的60 Hz顯示刷新率）

高頻率型號：包含標準頻率型號的所有功能，此外，在測量超薄材料時，可支持高達125 MHz的探頭頻率。

多層測量軟件：同時顯示最多6層測量值