ADCMT愛(ài)德萬(wàn) 直流數(shù)字電壓靜電計(jì) 8252

ADCMT愛(ài)德萬(wàn) 直流數(shù)字電壓靜電計(jì) 8252?

 數(shù)字靜電計(jì)

8252

直流電壓測(cè)量：3 V 至 200 V 范圍，最小分辨率 10 μV

直流電流測(cè)量：30 pA 至 30 mA 范圍，最小分辨率 1 fA

電阻測(cè)量：3 kΩ至200 GΩ范圍，最小分辨率10 mΩ

電荷測(cè)量：1 nC 至 10 μC 范圍，最小分辨率 1 fC

 ±200V電壓發(fā)生功能

施加電壓電阻測(cè)量可測(cè)量2×10 17 Ω

多種掃描測(cè)量功能使其成為評(píng)估各種設(shè)備的理想選擇

 功能應(yīng)用規(guī)格　　/價(jià)格外觀　　　　　　　　　　標(biāo)準(zhǔn)配件配件下載　　　　　　

8252 是一款高性能 5? 位數(shù)字靜電計(jì)，具有 ±200 V 電壓源功能。它可以測(cè)量 1 fA 電流、±210 V 范圍內(nèi) 2×1014 Ω高輸入阻抗電壓 、210 GΩ 電阻和 1 fC 電荷。

此外，其具備多種掃描功能的電壓生成功能，非常適合用于評(píng)估各種器件和材料。電流測(cè)量方面，采用積分電流電壓 (ICV) 技術(shù)，可有效抵抗感應(yīng)噪聲，并實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量。

此外，VSRM（電壓施加電阻測(cè)量）功能允許測(cè)量 2 x 10 17 Ω 的絕緣電阻。

特征

電壓產(chǎn)生和各種掃描功能

8252 內(nèi)置 ±200 V 可編程電源。提供兩種電源模式：常規(guī)模式（與測(cè)量異步運(yùn)行）和掃描模式（與測(cè)量同步變化）。掃描模式提供三種：固定、線性和隨機(jī)，您可以根據(jù)應(yīng)用選擇最合適的掃描測(cè)量。

固定掃描測(cè)量

：精確充電時(shí)間后測(cè)量絕緣電阻。

偏置值：掃描開(kāi)始前用戶指定的值。Td

：測(cè)量延遲

線性掃描測(cè)量

用于測(cè)量二極管和場(chǎng)效應(yīng)晶體管（FET）等半導(dǎo)體的 I-V 特性

隨機(jī)掃描測(cè)量

用于與隨機(jī)電壓生成同步的高速測(cè)量

可以在噪聲影響最小的情況下進(jìn)行測(cè)量

傳統(tǒng)靜電計(jì)具有較高的輸入阻抗，可以測(cè)量極小的電流和高電阻，但容易受到外部感應(yīng)噪聲的影響。8252 采用以下功能，可最大限度地降低噪聲的影響。

低噪聲雙同軸（三軸）輸入電纜，防止因電纜振動(dòng)引起的噪聲

采用抗噪聲的積分方法

- 與傳統(tǒng)反饋方法相比，具有更高抗噪聲能力的積分電流-電壓轉(zhuǎn)換器

- 高動(dòng)態(tài)范圍 AD 轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)高噪聲抑制率（噪聲為滿量程的 2 至 3 倍）

- 積分時(shí)間可在 1 ms 至 1 s 之間變化

使用移動(dòng)平均消除噪聲的平滑函數(shù) 

Driving Guard 功能可實(shí)現(xiàn)高阻抗信號(hào)源電壓和電阻的高速測(cè)量

在電壓和電阻測(cè)量中，當(dāng)信號(hào)源電阻或待測(cè)電阻較大（100 MΩ 或更大）時(shí)，由于電纜電容以及 Hi 和 Lo 端子之間的雜散電容，響應(yīng)速度會(huì)變慢。例如，如果信號(hào)源電阻為 1000 MΩ，電纜電容為 100 pF，則由于時(shí)間常數(shù) (t=100 ms)，達(dá)到最終值 ±0.1% 以內(nèi)的響應(yīng)時(shí)間約為 700 ms。為了改善此響應(yīng)速度，8252 采用了驅(qū)動(dòng)保護(hù)方法，該方法使用與輸入電壓相同的電位驅(qū)動(dòng)輸入電纜的內(nèi)屏蔽，使從 Lo 端子看到的阻抗看起來(lái)為零。此外，通過(guò)電纜和連接器從測(cè)量輸入端子流到 Lo 端子的漏電流也會(huì)減少，因此視在絕緣電阻也會(huì)增加。使用此功能可使響應(yīng)速度提高 10 倍以上。

帶驅(qū)動(dòng)保護(hù)器的測(cè)量：

使用驅(qū)動(dòng)保護(hù)器時(shí)，輸入電纜芯線與內(nèi)屏蔽層處于同一電位，因此輸入電纜的電容CX1可忽略不計(jì)。此外，由于內(nèi)屏蔽層和外屏蔽層之間的阻抗較低，因此CX2也可忽略不計(jì)。

接觸檢查功能可檢測(cè)接觸不良

接觸檢查原理圖

8252 可以使用接觸檢查功能檢測(cè)測(cè)量電纜與 DUT 之間、測(cè)量電極之間以及夾具與 DUT 之間的接觸不良。該接觸檢查功能會(huì)在常規(guī)模式下每次測(cè)量時(shí)判斷測(cè)量輸入端子與 LO 端子或電壓源端子之間的電容，并在 DCI 功能 30 pA 至 300 μA 范圍內(nèi)的掃描模式下開(kāi)始掃描時(shí)判斷測(cè)量輸入端子與 LO 端子或電壓源端子之間的電容。 

處理器接口和 PASS/FAIL 判斷功能非常適合生產(chǎn)線使用

8252標(biāo)配GPIB接口、TRIGGER、COMPLETE、INTERLOCK單線信號(hào)，以及用于連接自動(dòng)化設(shè)備的處理器接口。此外，還具備比較運(yùn)算功能，通過(guò)與接觸檢查功能配合使用，可以輸出反映比較判斷結(jié)果和接觸檢查結(jié)果的PASS/FAIL信號(hào)。這可在電容器漏液測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試等中實(shí)現(xiàn)高速自動(dòng)選擇。

應(yīng)用

用于各種半導(dǎo)體的評(píng)估和自動(dòng)檢查

8252除了具備1 fA電流測(cè)量和10 μV電壓測(cè)量功能外，還配備了能夠進(jìn)行VSIM（電壓源電流測(cè)量）/ISVM（電流源電壓測(cè)量）的可編程電源，通過(guò)組合這些功能，可以進(jìn)行各種半導(dǎo)體評(píng)估測(cè)試。此外，它還標(biāo)配GPIB、處理程序IF和各種單線信號(hào)，非常適合作為評(píng)估系統(tǒng)的組成部分。

?二極管和場(chǎng)效應(yīng)晶體管（FET）的I-V特性測(cè)試

高分辨率 8252 非常適合測(cè)量幾 pA 或更低電流下的 I-V 特性，例如光電二極管 (PD) 的暗電流特性和 MOSFET 的柵極電流。線性掃描功能可生成最多 5000 個(gè)步長(zhǎng)并存儲(chǔ)測(cè)量數(shù)據(jù)，自動(dòng)量程測(cè)量功能可設(shè)置測(cè)量范圍的移動(dòng)范圍，自動(dòng)量程延遲功能可設(shè)置每個(gè)量程的延遲時(shí)間，從而實(shí)現(xiàn)穩(wěn)

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