首頁(yè)>>深圳市江麥智能科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>探針臺(tái)/冷熱臺(tái)測(cè)試儀系列
真空探針臺(tái)測(cè)試儀 參考價(jià)：111000
真空探針臺(tái)測(cè)試儀，用于芯片，氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能，也可用 于材料分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測(cè)試、物理研究，氣敏分析、集成電路、LED、LCD...
高溫探針臺(tái)測(cè)試儀 參考價(jià)：68000
高溫探針臺(tái)測(cè)試儀測(cè)試儀廣泛的應(yīng)用于液態(tài)晶體、材料、聚合物、高分子及納米材料學(xué)、纖維、地質(zhì)、半導(dǎo)體,微機(jī)電系統(tǒng)、X-射線、流變、冷凍干燥、細(xì)胞生物學(xué)、生物學(xué)、生物...
半導(dǎo)體冷熱探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體冷熱探針臺(tái)，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能，也可用變溫光學(xué)測(cè)試、變溫電學(xué)測(cè)試、材料表征等分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測(cè)試、物理研究、氣敏...
冷熱探針臺(tái)測(cè)試儀 參考價(jià)：28000
冷熱探針臺(tái)測(cè)試儀，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能，也可用于材料分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測(cè)試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測(cè)試、LED、LCD...
光電測(cè)試加熱探針臺(tái)測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光電測(cè)試加熱探針臺(tái)測(cè)試儀，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能，也可用于材料分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測(cè)試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測(cè)試、LED...
光熱催化探針臺(tái)測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光熱催化探針臺(tái)測(cè)試儀主要用于氣固相的光催化和熱催化反應(yīng)，如CO2還原、加氫反應(yīng)、VOCs降解、固氮、固硫等反應(yīng)。該儀器廣泛應(yīng)用于能源化工、環(huán)境治理、化學(xué)工業(yè)、材...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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