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         OmniEvo180型光譜儀采用了我公司研發(fā)部門的 新力作Omni-λ180i型影像校正分（imagingspectro
graph）作為分光核心，可獲得更佳的光譜分辨率和光搜集效率；配備可更換的雙光柵塔臺，光柵可以自由選配，使得用戶可在多個不同的波長范圍內(nèi)擴(kuò)展操作。作為一款性能優(yōu)良的光譜儀，它接駁了一臺英國Andor公司的科研級、制冷型的CCD（型號：iVac-DR324B），能夠輕易的實現(xiàn)熒光、拉曼光譜等弱光探測，光譜范圍覆蓋400-1000nm；用戶另可選配制冷型InGaAs線陣探測器，擴(kuò)展光譜范圍至近紅外波段的900-1700nm。數(shù)據(jù)接口采用通用的USB2.0接口，用戶可以通過一臺計算進(jìn)行波長的掃描、攝譜等操作。
        OmniEvo180型光譜儀擁有優(yōu)良的光學(xué)設(shè)計和高靈敏的信號探測能力，是一款理想的光譜探測工具。

OmniEvo180型光譜儀的技術(shù)規(guī)格 型號 ZOV180i-V10 光譜范圍* 400-1000nm 焦距 180mm 相對孔徑 F/3.9 倒線色散 3.68nm/mm（@1200g/mm） 光譜分辨率 0.35nm（@1200g/mm） 波長準(zhǔn)確度 ±0.25（@1200g/mm） 波長重復(fù)性 ±0.1nm（@1200g/mm） 掃描步距 0.01nm（@1200g/mm） 光柵臺 可換的雙光柵塔臺 光柵規(guī)格 40*40mm，進(jìn)口 光柵參數(shù) 1#：1200g/mm刻線@500nm閃耀 2#： 300g/mm刻線@500nm閃耀 像面尺寸 大30*10mm 探測器類型 制冷型CCD面陣 有效像素 1650*200 像素尺寸 16*16μm 制冷溫度 -60℃ 讀出噪聲 6.2e@35kHz A/D轉(zhuǎn)換 16bits 光譜采樣率 >200spectra/s（ 大） 計算機(jī)接口 USB2.0

OmniEvo180型光譜儀的性能特點(diǎn) 體積小，節(jié)省空間，便于輕松的進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)的布局經(jīng)典 的C-T光學(xué)結(jié)構(gòu)結(jié)合影像校正設(shè)計，得到 佳的光學(xué)性能 和 低限度的雜散光可更換雙光柵塔臺設(shè)計，可實現(xiàn)更為 靈活的波長范圍和分辨率的選擇出廠前CCD已經(jīng)過精準(zhǔn)調(diào) 校，無需額外復(fù)雜的調(diào)整機(jī)構(gòu)和程序與卓立漢光現(xiàn)有配件 如光源等*兼容，可靈活組合成各種光譜檢測系統(tǒng)USB 2.0接口，即插即用 注：一次攝譜范圍依賴于光柵刻線數(shù)，見下頁表格

iVac科研級、制冷型CCD

iDus科研級、制冷型背感光CCD
英國Andor公司的iDus-420A型CCD是一款科研級的背感光CCD產(chǎn)品，它采用了Andor公司專有的UltraVacTM真空封裝技術(shù)，并特別針對UV波段進(jìn)行優(yōu)化，增強(qiáng)了短波探測能力，峰值量子效率達(dá)到80%以上。 

iDus CCD技術(shù)規(guī)格 型號 iDus-DU420A-BU 探測器類型 制冷型背感光CCD面陣 有效像素 1024*255 像素尺寸 26*26μm 像面尺寸 26.6*6.6mm 制冷溫度 -80℃~-100℃（ 低） 讀出噪聲 6e@33kHz 讀出速度 35kHz，50kHz，100kHz 靈敏度 2e，3.5e，14e/count 暗電流 0.002e/pixel/s @-70℃ A/D轉(zhuǎn)換 16bits 光譜采樣率 > 75spetra/s （Full Vertical Bin） 計算機(jī)接口 USB2.0

CCD一次攝譜范圍* 光柵刻線數(shù) OmniEvo180 1200g/mm 100nm 600g/mm 200nm 300g/mm 400nm 150g/mm 800nm