HITACHI日立是一家全球性的日立公司，通過互聯(lián)材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續(xù)，這些解決方案使生產(chǎn)和開發(fā)過程更加高效、自動化和綠色，以確保產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性和合規(guī)性。我們提供實(shí)驗(yàn)室級和強(qiáng)大高性能現(xiàn)場檢測設(shè)備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）、熱分析儀、鋰電池異物分析儀、油品分析儀、土壤分析儀等。

HITACHI日立雙光束分光光度計(jì)雙光束設(shè)計(jì)，光學(xué)性能穩(wěn)定

采用雙光束設(shè)計(jì)，光源發(fā)出的能量被一個(gè)反射鏡分成兩束，一束通過參考池，另一束通過樣品池，而單光束設(shè)計(jì)則不具備這種性能。
由于參比側(cè)的能量也被檢測器捕獲，分光光度計(jì)測定時(shí)基于該信號的，因此可以彌補(bǔ)光源能量的變化，從而確保長時(shí)間的穩(wěn)定測量。

HITACHI日立雙光束分光光度計(jì)采用了凹面聚焦衍射光柵

該儀器采用Seya-Namioka單色儀作為光學(xué)元件，該單色儀使用，是典型的凹面衍射光柵單色儀。
由于凹面衍射光柵同時(shí)擁有光束的聚焦和色散功能，該光學(xué)系統(tǒng)只需要配置少量的反射鏡。
這種分光光度計(jì)采用了更少的反射鏡而只需更短的光路，因此消像差能力及光學(xué)明亮度都可以得到提高。
過去，消除像差從本質(zhì)講是無法實(shí)現(xiàn)的，日立在原有的技術(shù)基礎(chǔ)上開發(fā)出了凹面聚焦衍射光柵。有了這種光柵，可以實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。

用Seya-Namioka單色儀，消除了慧形象差，實(shí)現(xiàn)了更高分辨率。該單色儀的刻槽是由在日本的刻機(jī)完成的。U-2900/2910的衍射光柵都是使用這種刻線機(jī)制成的。

電腦進(jìn)行儀器控制和數(shù)據(jù)處理

U-2900分光光度計(jì)可以通過安裝了UV Solutions程序進(jìn)行電腦控制。
UV Solutions程序不僅具備光度測定定量分析和波長掃描等基本功能，而且還能夠進(jìn)行如下數(shù)據(jù)處理。
（U-2910光度計(jì)專門由電腦控制。UV Solutions程序必須要有安裝了Windows®操作系統(tǒng)的電腦）

操作簡單
按鈕被單獨(dú)列出便于跟隨操作過程，因此，軟件操作很容易進(jìn)行。

數(shù)據(jù)處理功能多種多樣
波譜可以被寬化、窄化、平滑化、區(qū)分和合成，在各種波譜之間的基本數(shù)學(xué)計(jì)算也可以實(shí)現(xiàn)。

可以將光譜轉(zhuǎn)移到其它應(yīng)用軟件  

強(qiáng)大的報(bào)告生成支持
檢測得到的數(shù)據(jù)可以發(fā)送到Microsoft® Excel®表格中。只需點(diǎn)擊“報(bào)告"按鈕即可完成數(shù)據(jù)傳送。

打印預(yù)覽
打印前，可通過預(yù)覽命令檢查打印內(nèi)容

測量數(shù)據(jù)文本轉(zhuǎn)換
除了轉(zhuǎn)換成ASCII文本或JCAMP格式外，光譜還可以存成Metafile格式。

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)