攜帶式金屬分析儀 參考價(jià)：面議
攜帶式金屬分析儀，通過(guò)分析這些高能k線，可以避免與普通金屬的復(fù)雜光譜重疊，從而產(chǎn)生前所的未有的檢測(cè)極限和比任何其他便攜式XRF更好的性能。
日立金屬探測(cè)儀 參考價(jià)：面議
日立金屬探測(cè)儀用于地質(zhì)勘探、礦石開(kāi)采、礦石浮選、金屬冶煉等材質(zhì)的元素成分定性與定量分析檢測(cè)。
尼通手持成分分析儀 參考價(jià)：面議
尼通手持成分分析儀，應(yīng)用于合金、礦石、土壤調(diào)查、三元催化、 考古、貴金屬等行業(yè)的元素分析。
手持式多金屬檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
手持式多金屬檢測(cè)儀用于地質(zhì)勘探、礦石開(kāi)采、礦石浮選、金屬冶煉等材質(zhì)的元素成分定性與定量分析檢測(cè)。
全元素礦石掃描分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
全元素礦石掃描分析系統(tǒng)用于地質(zhì)勘探、礦石開(kāi)采、礦石浮選、金屬冶煉等材質(zhì)的元素成分定性與定量分析檢測(cè)。
多金屬掃描分析儀 參考價(jià)：面議
多金屬掃描分析儀用于地質(zhì)勘探、礦石開(kāi)采、礦石浮選、金屬冶煉等材質(zhì)的元素成分定性與定量分析檢測(cè)。
多金屬掃描分析儀 參考價(jià)：面議
多金屬掃描分析儀用于地質(zhì)勘探、礦石開(kāi)采、礦石浮選、金屬冶煉等材質(zhì)的元素成分定性與定量分析檢測(cè)。
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀 參考價(jià)：面議
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀應(yīng)用簡(jiǎn)報(bào)將描述標(biāo)準(zhǔn)/樣品制備、MICAP-OES1000 儀器技術(shù)、硬件描述、方法參數(shù)和結(jié)果摘要。主要測(cè)定元素是王水浸出液中的金。 由...
原子發(fā)射光譜儀 參考價(jià)：面議
原子發(fā)射光譜儀只有通過(guò)采用Radom的CER-AWAVETM技術(shù)才能實(shí)現(xiàn)，該技術(shù)取代了當(dāng)今市售ICP-OES儀器中的金屬水冷線圈。
賽默飛等離子體光譜儀 參考價(jià)：面議
賽默飛等離子體光譜儀搭載Cerawave™技術(shù)的RADOM新款I(lǐng)CP采用模塊化設(shè)計(jì)，由等離子體發(fā)生器（含進(jìn)樣系統(tǒng)）和中階梯分光檢測(cè)系統(tǒng)兩個(gè)模塊構(gòu)成。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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