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| 應用領域 | 綜合 |
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光譜儀應用于合金、礦石、土壤調查、三元催化、考古、貴金屬等行業(yè)的元素分析。
X-200 XRF是SciAps諸多型號中性能與價格比高的一款產品。它使用了性能較好的SDD探測器，高度優(yōu)化的X射線管和探測器之間的幾何結構，同時改進了散熱性、減輕了重量，提高耐用性。在Android操作系統(tǒng)上運行WiFi和軟件，輕松實現智能手機的高速度、連接性和數據管理。
光譜儀全新設計
•重量輕，1.4Kg（含電池）
•全新散熱設計，可在高達43℃以上環(huán)境溫度連續(xù)工作
•改進的內部電路設計
•全新外殼設計和金屬部件升級
•最新的軟件界面和校準
高性能和價值
X-200系列是當前市場上高性價比的分析儀器，能夠提供較好的分析速度和性能，同時具有SciAps其他SDD產品如
X-505/X-550等相同的準確性和吞吐量。
X射線管
40 kV Rh陽極，用于合金
50 kV Au陽極，用于地球化學、土壤、RoHS等
規(guī)格說明
重量 | 1.40kg（含電池） |
外形尺寸 | 238mm x 283mm x 84mm |
供電源 | 插拔式可充電鋰電池，可在設備內部充電或使用外部充電器充電，交流電源 |
顯示屏 | 5英寸彩色觸摸屏，智能手機式顯示屏 – PowerVR SGX540 3D 圖形 |
樣品監(jiān)測 | 內部攝像頭，用于在分析前和分析期間查看樣品，以便正確對準樣品。 微距相機，用于掃描二維碼或條形碼以及照片文檔和報告生成。 |
通訊/數據傳輸 | Wi-Fi、藍牙、USB 可連接到大多數設備，包括SciAps Profile Builder PC 軟件。提供SciAps云數據管理選項 |
激發(fā)源 | 6-40kV, 200uA 銠靶用于合金分析，6-50kV, 200金靶用于其他大多數應用 |
探測器 | 20mm2 硅漂移探測器（有源區(qū)），135eV 分辨率 FWHM，5.95Mn K- α線。 |
X射線濾光片 | 用于光束優(yōu)化的x6濾光片濾光輪 |
處理器 | ARM Cortex -A9 雙核/1.2GHz 內存：1GB DDR2 RAM，1GB NAND |
脈沖處理器 | 14 位數模轉換，80MSPS采樣率，8K 通道 MCA，USB2.0高速數據傳輸至主處理 器；FPGA應用數字濾波用于高吞吐量脈沖處理（50 nS - 24 uS 峰值時間） |
校準方法 | 基本參數、康普頓歸一化和/或康普頓歸一化用于合金分析。 地球化 學、環(huán)境和土壤校準 |
校準檢查 | 內部部316不銹鋼標準樣品，用于校準驗證和能量標度驗證 |
使用環(huán)境溫度范圍 | 1-12 ℃ - 55 ℃ |
安全 | 密碼保護使用（用戶級別）和內部設置（管理員） |
規(guī)范 | CE,RoHS,USFDA認證， 符合加拿大RED Act. |
合金模式：Mg，Al，Si，P，S，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Y，Se，Zr，Nb，Mo，Ru，Pd，Ag，Au，Cd，Pb，Bi，Sn，Sb，W，Ta，Hf，Re。
礦石模式：Mg，Al，Si，P，S，K，Ca，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Sr，Rb，Zr，Nb，Mo，Au，Ag，Sn，Sb，Ta，W，Pb。
土壤模式：P，S，K，Ca，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Y，Zr，Nb，Mo，Ag，Cd，Sn，Sb，Ba，Hg，Tl，Pb。
貴金屬模式：Ti，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，W，Zn，Ga，Ge，Ir，Pt，Au，Rh，Ru，Pb，Bi，Zr，Pd，Cd，In，Ag，Sn，Sb。
注：可根據客戶需求添加元素
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