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“會有電池不合格”——JEITA與BAJ公布強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)概要
閱讀：1935 發(fā)布時間：2009-9-17
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電子信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)協(xié)會（JEITA）與電池工業(yè)會（BAJ）于2007年4月25日，就雙方不久前制定的“筆記本電腦鋰離子充電電池安全利用手冊”，舉辦了媒體說明會（參閱本站報道）。并在會上介紹了雙方目前正在探討的新提出的強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)的概要。
強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)指的是，驗(yàn)證鋰電池單元在異物混入導(dǎo)致內(nèi)部發(fā)生短路時，是否會起火或破裂的試驗(yàn)。在JEITA與BAJ目前探討的內(nèi)容中，使用的是*充電狀態(tài)的鋰電池。試驗(yàn)需要在充電后，打開電池單元的外部封裝，取出被電極膜包裹的電極，按照試驗(yàn)?zāi)康牟迦雽?dǎo)電性異物。之后，在穩(wěn)定的溫度下加壓，直到觀測到內(nèi)部短路引起的電壓下降為至。
試驗(yàn)希望驗(yàn)證的是，即使在上述條件下，電池也不起火和破裂。“在此之前，各廠商采取了其他方式測定內(nèi)部短路。但此次試驗(yàn)的條件是zui嚴(yán)格的。根據(jù)不同的試驗(yàn)條件，可能會有電池?zé)o法通過該試驗(yàn)。在這種情況下，廠商就需要修改設(shè)計”（電池工業(yè)會負(fù)責(zé)人）。以往，也有廠商采用釘刺等方式自主進(jìn)行內(nèi)部短路試驗(yàn)。而此次的方法能夠更真實(shí)地再現(xiàn)實(shí)際異物混入的狀況，實(shí)驗(yàn)精度更高。JEITA與BAJ希望在以往的IEC62133及JIS C8712試驗(yàn)方法的基礎(chǔ)上，通過加入更為嚴(yán)格的試驗(yàn)項(xiàng)目，使起火、破裂等重大事故數(shù)量趨近于零。
異物為長度小于1mm的物質(zhì)，但使用的材料沒有公開。異物的插入位置如下：（1）正極活性物質(zhì)與負(fù)極活性物質(zhì)之間，（2）集電體箔與活性物質(zhì)之間。JEITA與BAJ計劃另選時間公布該試驗(yàn)的詳細(xì)情況。此外，為了使該試驗(yàn)進(jìn)入性的試驗(yàn)程序，雙方已向IEC的有關(guān)部門提交了提案。
強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)指的是，驗(yàn)證鋰電池單元在異物混入導(dǎo)致內(nèi)部發(fā)生短路時，是否會起火或破裂的試驗(yàn)。在JEITA與BAJ目前探討的內(nèi)容中，使用的是*充電狀態(tài)的鋰電池。試驗(yàn)需要在充電后，打開電池單元的外部封裝，取出被電極膜包裹的電極，按照試驗(yàn)?zāi)康牟迦雽?dǎo)電性異物。之后，在穩(wěn)定的溫度下加壓，直到觀測到內(nèi)部短路引起的電壓下降為至。
試驗(yàn)希望驗(yàn)證的是，即使在上述條件下，電池也不起火和破裂。“在此之前，各廠商采取了其他方式測定內(nèi)部短路。但此次試驗(yàn)的條件是zui嚴(yán)格的。根據(jù)不同的試驗(yàn)條件，可能會有電池?zé)o法通過該試驗(yàn)。在這種情況下，廠商就需要修改設(shè)計”（電池工業(yè)會負(fù)責(zé)人）。以往，也有廠商采用釘刺等方式自主進(jìn)行內(nèi)部短路試驗(yàn)。而此次的方法能夠更真實(shí)地再現(xiàn)實(shí)際異物混入的狀況，實(shí)驗(yàn)精度更高。JEITA與BAJ希望在以往的IEC62133及JIS C8712試驗(yàn)方法的基礎(chǔ)上，通過加入更為嚴(yán)格的試驗(yàn)項(xiàng)目，使起火、破裂等重大事故數(shù)量趨近于零。
異物為長度小于1mm的物質(zhì)，但使用的材料沒有公開。異物的插入位置如下：（1）正極活性物質(zhì)與負(fù)極活性物質(zhì)之間，（2）集電體箔與活性物質(zhì)之間。JEITA與BAJ計劃另選時間公布該試驗(yàn)的詳細(xì)情況。此外，為了使該試驗(yàn)進(jìn)入性的試驗(yàn)程序，雙方已向IEC的有關(guān)部門提交了提案。