人工納米顆粒因具有不同的性質，受到許多工業(yè)和商業(yè)應用的追捧。研究表明，一些納米顆?？赡軙θ梭w造成危害。為了更好地理解納米顆粒的影響，需要對納米顆粒相關的一些重要特性進行評估。電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）是能夠測定和評估含有金屬的納米顆粒的許多重要特性的分析技術之一。儀器具有低檢出限對于測定液體中低濃度的顆粒和檢查單個顆粒的特點非常重要。本研究的工作就是探討現(xiàn)代ICP-MS測定金屬制納米顆粒重要特性的能力。
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