文章描述了利用紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì)分析半導(dǎo)體用納米顆粒的邊際缺口能量的方法，可以作為判別材料質(zhì)量好壞的依據(jù)
提供商 |
珀金埃爾默企業(yè)管理（上海）有限公司 | 下載次數(shù) |
1259次 |
資料大小 |
433.6KB | 資料類型 |
PDF 文件 |
資料圖片 |
-- | 瀏覽次數(shù) |
413次 |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
17
立即詢價(jià)
您提交后，專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)