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原子發(fā)射光譜法測定高純鎳粉中Cu元素含量

閱讀:238      發(fā)布時(shí)間:2019-03-05
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高純鎳粉作為一種重要的工業(yè)原材料,具有特殊的磁性、熱阻、化學(xué)活性,廣泛應(yīng)用于制備高熔點(diǎn)高硬度材料、催化劑、貯氫材料、光吸收材料等金屬材料,在原子能工業(yè)、軍事工業(yè)中發(fā)揮了不可替代作用[1]。高純鎳粉作為研制相關(guān)金屬材料的原料,其雜質(zhì)含量與后續(xù)研制生產(chǎn)的金屬材料質(zhì)量密切相關(guān),因此,研究開發(fā)一種快速準(zhǔn)確的高純鎳粉中雜質(zhì)含量分析測試方法具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。

 

目前,測定鎳中雜質(zhì)元素的現(xiàn)行國家標(biāo)準(zhǔn)方法(GB/T 8647 鎳化學(xué)分析方法)主要采用分光光度法和原子吸收光譜法,這兩種方法適用于單元素逐一測定,測試效率并不高,電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(inductively coupled plasma atomic emission spectrometry,珀金埃爾默ICP-OES)分析技術(shù)相對快捷,已廣泛應(yīng)用于分析測試領(lǐng)域[2~3],美國 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)正是采用ICP-AES 技術(shù)測定了鎳合金中合金元素和雜質(zhì)元素含量(E2594-09 Standard Test Method forAnalysis of Nickel Alloy by Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry),但并未測定 Fe 元素含量。


 

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珀金埃爾默企業(yè)管理(上海)有限公司

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