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Avio 500 ICP-OES實時內標法 獲得更高精度

閱讀:392      發(fā)布時間:2020-05-22
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使用ICP-OES進行測量時,通常可接受的精度(即相對標準偏差,RSD)為1-2%。但是,有些應用則需要更高精度,如貴金屬、電池材料等的主要成分分析以及基質組成的確認。在Avio 500 ICP-OES.上采用實時內標法(CRTSIS) 技術是一種實現更高精度測量的簡單方法。

影響精度的變量:
以下因素都會影響到測量的精度:閃爍噪聲、散粒噪聲(即計數統(tǒng)計數據)以及內標物的選擇。閃爍噪聲為分析信號中源自等離子體的噪聲,這主要是由樣品引入過程引起的。這些噪聲源包括來自蠕動泵的脈沖,通過霧室進入等離子體的氣溶膠的產生和運輸,以及等離子體內部發(fā)生的過程。通常,蠕動泵是導致閃爍噪聲的主要因素。在考慮散粒噪聲/計數統(tǒng)計信息時,邏輯上來講更高的強度將帶來更佳的精度,但如果沒有以方式實現,更高的強度也會導致精度稍差。例如,增加測量強度的一-種方法是使用更長的讀取時間。但是,在保持恒定的測量時間的同時保證更長的讀取時間,則必須減少重復測量的次數。因此,這也會導致精度降低。所以必須在測量時間、重復次數、分析強度和讀取時間之間平衡。
 
在進行分析時,內標物的使用非常重要,因為它們會同時導致樣品基質和樣品引入效應。內標以恒定的濃度添加到所有空白、樣品和標樣中,濃度要足夠大,以便觀察到由樣品基質和/或樣品引入引起的任何變化。如果內標的強度受到影響,則假定分析物的強度也會受到同樣的影響。在結果中根據內標的信號效應來調整分析物的強度。通常,分析中的所有元素都使用1或2個內標。但是,即使在同步ICP-OES儀器上,內標也可能無法與分析物*同時測量。獲得精度的關鍵是與分析物*同時地測量內標。
 
 

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珀金埃爾默企業(yè)管理(上海)有限公司

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