環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)中的“潛在缺陷”是啥?
環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)是通過向電子產(chǎn)品施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力,將其內(nèi)部的“潛在缺陷”激發(fā)成為故障,并通過檢測發(fā)現(xiàn)和排除的過程,是一種工藝手段。在制定ESS方案前,首先應(yīng)研究產(chǎn)品缺陷,即研究產(chǎn)品缺陷是開展ESS的前提。根據(jù)缺陷特點(diǎn),可將產(chǎn)品缺陷按以下方式分類:
1.按引入缺陷的源頭分類,可分為設(shè)計(jì)缺陷、生產(chǎn)缺陷、元器件及原材料缺陷。
2.按可檢測程度分類,可分為明顯缺陷與潛在缺陷。
3.按ESS效果分類,可分為ESS能激發(fā)和導(dǎo)致故障的缺陷、ESS不能激發(fā)和導(dǎo)致故障的缺陷。
下表給出了ESS與“潛在缺陷”的關(guān)系。
缺陷分類 | 元器件缺陷 | 設(shè)計(jì)缺陷 | 生產(chǎn)缺陷 | ESS作用 | 發(fā)現(xiàn)缺陷手段 | |
明顯缺陷 | 可能導(dǎo)致故障的缺陷 | 可檢測出 | 可檢測出 | 可檢測出 | 能激發(fā) | 檢驗(yàn) |
不能導(dǎo)致故障的缺陷 | 可檢測出 | 可檢測出 | 可檢測出 | 不能激發(fā) | 檢驗(yàn) | |
潛在缺陷 | 可能導(dǎo)致故障的缺陷 | 不能測出 | 不能測出 | 不能測出 | 能激發(fā) | ESS |
不能導(dǎo)致故障的缺陷 | 不能測出 | 不能測出 | 不能測出 | 不能激發(fā) | —— |
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