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Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x的基本原理

來(lái)源:東莞市廣聯(lián)自動(dòng)化科技有限公司   2016年08月30日 13:45  

Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品薄膜的厚度,這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì);有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì);有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。
Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x原理分類
測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同,可大致分為:
1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分:
點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
面接觸時(shí)測(cè)厚儀
2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同,又可分為以下幾種:
激光測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀
X射線測(cè)厚儀
白光干涉測(cè)厚儀
電解式測(cè)厚儀
管厚規(guī)
Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x:用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度,測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
涂層測(cè)厚儀:
涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。
涂層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)
Filmetrics膜厚測(cè)量根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:
1.磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測(cè)量精度高。
2.渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。
3.超聲波測(cè)厚法:適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴,測(cè)量精度也不高。
4.電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層,一般精度也不高。測(cè)量起來(lái)比較其他幾種麻煩。
5.放射測(cè)厚法:此處儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬(wàn)RMB以上),適用于一些特殊場(chǎng)合。
Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,放射測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦流測(cè)厚法,超聲波測(cè)厚法。
Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x注意事項(xiàng):
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量,因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x:用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度,測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

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