電子天平的日校要做幾個點、各幾次稱量？

    再次強調日校的目的不是考查準確性，而是考查天平是否發(fā)生了漂移，所以所謂多點的日校是沒有意義的。理想狀態(tài)下，就是砝碼重量與測量值的函數(shù)呈一條斜率為1的直線，只不過是不經過原點，這個截距就是天平的漂移值，也就是線跑偏了。

    日校也不是做精密度，所以也沒有必要做那么多次，但為了發(fā)現(xiàn)問題，三次稱量是有必要的。

日校要做四角嗎？

這部分工作在確認時作一般就可以了，除非有異常發(fā)生。相信不會有人在使用天平時，可著一個角去“造"。

日校砝碼的選擇和砝碼的計數(shù)？

日校砝碼應選擇合適精度的砝碼，以確保其精度和不確定度不影響天平的日校。一般萬分之一及更高精度的天平宜選擇E2級砝碼，千分之一到克級天平可選擇F1到F2級砝碼，生產系統(tǒng)可使用M級砝碼。

砝碼宜選擇日常經常稱量的重量，如果你一定要有個范圍的話，可以使用日常的zui大和zui小重量。

而對于砝碼是按標示值去計，還是按照檢定值去計，可以說使用檢定值一定是沒有問題的，但在砝碼zui大允許誤差遠小于日校范圍時，則沒有必要使用檢定值了，標示值則更利于計算和判定。

日校和校準哪個在先？

有個錯誤的操作是，有人在做日校時，首*行了校準。那么他的zui大問題是，他可能會掩蓋了兩次日校之間天平已經發(fā)生了偏離的可能性。所以正確的操作是，只有當系統(tǒng)發(fā)生了偏離，且這個偏離是你所不希望的（不是不可接受的），這時你就要做校準了，校準之后再重新做日校。