進(jìn)口Fischer測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)

來源：篤摯儀器（上海）有限公司 2017年01月12日 11:27

涂層測(cè)厚儀在測(cè)量物體時(shí),除測(cè)量方法外,還會(huì)有其他因數(shù)會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果有所偏差,具體影響因數(shù)請(qǐng)看下表.

　　涂層測(cè)儀除了可以測(cè)量磁性金屬基體和非磁性基體上的涂層,亦可以測(cè)量金屬電鍍的鍍層測(cè)厚儀,因此,涂層測(cè)厚儀,通常也稱為涂鍍層測(cè)厚儀.

　　磁性涂層測(cè)厚技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和檢定規(guī)程

　　標(biāo)準(zhǔn)：

　　標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956-2003《磁性基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性法》

　　標(biāo)準(zhǔn)ISO 2178-1982

　　檢定規(guī)程：

　　JJG818-2005 《磁性、電渦流式覆層厚度測(cè)量儀》

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