一、 無(wú)損檢測(cè)(NDT):
內(nèi)部檢測(cè)、表面檢測(cè)
二、 探傷主要分為五類:
| 類別 | 優(yōu)缺點(diǎn) |
內(nèi)部缺陷檢測(cè) | 射線探傷 | 直觀,但有輻射,成本高,所測(cè)工件不能太厚 |
超生波探傷 | A掃描,*,成本低,檢測(cè)工件厚度大 | |
表面缺陷 | 磁粉探傷 | 檢測(cè)工件表面,但內(nèi)部缺陷不能測(cè) |
渦流探傷 | ||
滲透探傷 |