低損耗光學元件的反射率和透射率的確定
1)通過腔衰減時間測量,可以非常地測量反射率值R> 99%,透射率值T> 99%的低損耗光學元件。 與光譜儀中的測量相比,該方法有三個主要優(yōu)點:
2)適用于非常高的反射率和透射率
3)不可能獲得高于實際值的測量值
4)它具有非常高的精度
基本CRD測量設置
Layertec配有各種腔體環(huán)形系統(tǒng),可以穩(wěn)定地控制光學元件的質量。 有關更多詳細信息,請參閱我們的目錄內容“低損耗光學和腔體衰減時間測量簡介”。
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相位優(yōu)化fs激光寬帶鏡 - CRD測量示例
低損耗鏡 - CRD測量示例
車鏡 - 寬帶CRD測量示例
薄膜偏振器 - CRD測量示例
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