質(zhì)構(gòu)儀測(cè)餅干的硬度和脆性需要關(guān)注幾個(gè)問(wèn)題?
(1)餅干是什么樣的餅干?有沒(méi)有脆性?
對(duì)于一些很厚又較軟的餅干,有硬度,但是相對(duì)來(lái)說(shuō)脆性很小或者沒(méi)有脆性。而很薄又脆的酥性餅干,相對(duì)而言才有硬度和脆性的說(shuō)法。
(2)測(cè)餅干的硬度和脆性應(yīng)該選用哪些配件?
通常應(yīng)該選用2mm的柱形探頭和帶孔的平臺(tái),柱形探頭穿刺完樣品之后從平臺(tái)的孔中穿出,保證樣品穿刺*而不會(huì)對(duì)探頭有損壞。
(3)測(cè)試條件如何選擇?
測(cè)試前速度不宜太快,太快容易造成延遲啟動(dòng)分析,通常不超過(guò)3mm/s為宜;測(cè)試速度以受力均勻、樣品與探頭充分受力為宜,通常測(cè)試速度較小,在0.5mm/s-2mm/s比較合適;測(cè)試后速度主要和粘性有關(guān),如果不考慮樣品粘性或者樣品沒(méi)有粘性,測(cè)試后速度可以調(diào)快一點(diǎn)。目標(biāo)模式也就是探頭壓到什么時(shí)候停止呢,建議采用距離模式,探頭測(cè)試移動(dòng)距離大于樣品的高度,從而保證*穿刺樣品。
(4)餅干的硬度和脆性如何定義呢?
這個(gè)是典型的餅干曲線(xiàn),波動(dòng)可能是由餅干的破裂或是餅干內(nèi)部有大的內(nèi)含物而造成。因此,一般將曲線(xiàn)內(nèi)的zui高峰定義為餅干的硬度,線(xiàn)性距離定義為餅干的酥脆性,線(xiàn)性距離越短,餅干的酥脆性越好。
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