簡(jiǎn)晰PVDF薄膜材料與ZJ-3型壓電測(cè)試儀之間的測(cè)量關(guān)系

PVDF膜原理:

PVDF膜即聚偏二氟乙烯膜（polyvinylidene fluoride）是蛋白質(zhì)印跡法中常用的一種固相支持物。PVDF膜是疏水性的，膜孔徑有大有小，隨著膜孔徑的不斷減小，膜對(duì)低分子量的蛋白結(jié)合就越牢固

PVDF膜

PVDF膜即聚偏二氟乙烯膜（polyvinylidene fluoride）是蛋白質(zhì)印跡法中常用的一種固相支持物。PVDF膜是疏水性的，膜孔徑有大有小，隨著膜孔徑的不斷減小，膜對(duì)低分子量的蛋白結(jié)合就越牢固。大于20000的蛋白選用0.45um的膜，小于20000的蛋白選用0.2um的膜。PVDF膜在使用時(shí)需預(yù)處理，用甲醇處理的目的是活化膜上的正電基團(tuán)，使其更容易與帶負(fù)電的蛋白結(jié)合。PVDF膜具有較高的機(jī)械強(qiáng)度，是印跡法中的理想固相支持物材料。

分類

1、水處理用PVDF膜，分為超濾膜和微濾膜兩種，主要用于污水、海水淡化等的前處理，清除大分子、細(xì)菌、泥沙等雜質(zhì)

2、戶外建筑用PVDF膜，主要用戶戶外建筑的玻璃、外墻、戶外廣告牌等的保護(hù)，主要是耐老化和耐磨功能

3、電池用PVDF膜，包括在燃料電池和鋰離子聚合物電池中的隔膜應(yīng)用

PVDF的主要性能

優(yōu)點(diǎn)

· 機(jī)械強(qiáng)度與堅(jiān)韌度高

· 防霉菌性

· 高耐磨性

· 對(duì)氣體和液體的高耐滲透性

· 耐熱穩(wěn)定性好

· 阻燃，低煙

· 溫度提升過(guò)程中抗蠕變性好

· 純度高

· 容易進(jìn)行熔體加工

· 耐對(duì)大多數(shù)化學(xué)品與溶劑

· 兼有剛性的和柔韌的形態(tài)

· 抗紫外線和核輻射性

· 抗沖擊性能

· 耐候性

· 耐低溫達(dá)-40℃

目前我們國(guó)家對(duì)材料測(cè)試越來(lái)越重視，很多單位及科研院校對(duì)產(chǎn)品甄別出現(xiàn)很大問(wèn)題，但是真正測(cè)試材料需要選擇一款可靠的測(cè)試產(chǎn)品，這樣對(duì)自己的測(cè)試成果及研究會(huì)帶來(lái)很大的作用,對(duì)我們的生產(chǎn)帶來(lái)極大的指導(dǎo)性作用。

ZJ-3型壓電測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）
關(guān)鍵詞:壓電,陶瓷材料,高分子,d33/d15

一、產(chǎn)品介紹：

ZJ-3型壓電測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的儀器，它可用來(lái)測(cè)量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測(cè)量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數(shù)，儀器測(cè)量范圍寬，分辨率細(xì)，可靠性高，操作簡(jiǎn)單，對(duì)試樣大小及形狀無(wú)特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量，測(cè)量結(jié)果和極性在三位半數(shù)字面板表上直接顯示。ZJ-3型壓電測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）在原ZJ-2型壓電測(cè)試儀的基礎(chǔ)上增加了對(duì)被測(cè)元件的放電保護(hù)、放電提示以及被測(cè)波形輸出等功能，使得儀器在測(cè)量未放電（尤其是較大尺寸）的壓電元件時(shí)具備了高電壓放電提示及保護(hù)功能，本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門的*儀器。

二、參考標(biāo)準(zhǔn):
GB3389.4-82《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33的靜態(tài)測(cè)試》

GB/T3389.5-1995《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 圓片厚度伸縮振動(dòng)模式》

GB000?Tj1.1/T3389.4-1982《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 柱體縱向長(zhǎng)度伸縮振動(dòng)模式》

GB/T 3389.7-1986《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 強(qiáng)場(chǎng)介電性能的測(cè)試》

GB/T3389.8-1986《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 熱釋電系數(shù)的測(cè)試

三、產(chǎn)品主要功能：

﹡測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)

﹡測(cè)量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷

﹡測(cè)量小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料

﹡測(cè)量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數(shù)

四、主要技術(shù)指標(biāo)

d33測(cè)量范圍：

★ ×1擋：10到2000pC/N，20 至4000pC/N，可以升級(jí)到10000PC/N.
★×0.1擋： 1到200pC/N，2 至400pC/N。

★可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用

★可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機(jī)使用
誤差：×1擋：±2%±1個(gè)數(shù)字，當(dāng)d33在100到4000pC/N；
±5%±1個(gè)數(shù)字，當(dāng)d33在10到200pC/N；
×0.1擋：±2%±1個(gè)數(shù)字，(當(dāng)d33在10到200pC/N)
±5%±1個(gè)數(shù)字，當(dāng)d33在10到20pC/N。
分辨率：   ×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1 pC/N。
尺寸：施力裝置：Φ110×140mm；儀器本體：240×200×80mm。
重量：施力裝置：約4公斤；   
儀器本體：2公斤。
電源：220伏，50赫，20瓦。

★補(bǔ)充參數(shù):

總之,ZJ-3型壓電測(cè)試儀在測(cè)量壓電薄膜方面是可行的