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直接接觸式探頭：正如名稱所表明的那樣，直接接觸式探頭用于與試塊直接接觸。使用接觸式探頭的測(cè)量通常是zui容易實(shí)現(xiàn)的，對(duì)于非腐蝕測(cè)量的大多數(shù)常規(guī)測(cè)厚應(yīng)用，它們經(jīng)常是的方法。
延遲線探頭：延遲線探頭將一個(gè)由塑料、環(huán)氧或熔融硅作為一體的柱體作為在激發(fā)元件和試塊之間的延遲線。使用它們的主要原因是用于薄材料測(cè)量，在這種情況，將激發(fā)脈沖和底面回波分離開(kāi)來(lái)是非常重要的。延遲塊可用作熱絕緣體，防止對(duì)熱敏感的探頭晶片直接和熱的工件接觸;同時(shí)延遲線也可為具有形狀或仿形狀用來(lái)改善對(duì)尖銳曲面或狹窄面上的聲能耦合。
水浸探頭：水浸探頭使用柱狀水或水池來(lái)將聲能耦合入試塊，它們也可用于移動(dòng)產(chǎn)品的在線或加工過(guò)程中的測(cè)量;是用于在小半徑、凹槽的掃描的測(cè)量或耦合優(yōu)化。
雙晶探頭：雙晶片的探頭，或簡(jiǎn)稱為雙晶探頭，主要用于粗糙、腐蝕表面的測(cè)量。它有獨(dú)立的發(fā)射晶片和接收晶片，以一個(gè)小角度安裝在延遲塊上從而將能量聚焦在試塊表面下的一個(gè)選定的距離上。雖然有時(shí)候雙晶探頭測(cè)量不如其他類(lèi)型探頭，在腐蝕測(cè)量應(yīng)用中它們通常能提供顯著的良好的性能。
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