1、CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學儀器，CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口標準樣板圖對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。
2、CST-50型沖擊試樣缺口投影儀對于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴格（試樣缺口深2mm、呈45º角且試樣缺口要求R0.25±0.25），故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.25mm）都會引起試驗結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，對缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。
一、CST-50型沖擊試樣缺口投影儀技術參數(shù)：
1、投影屏直徑：180
2、工作臺尺寸：方工作臺：110×125
　　　　　　　圓工作臺：∮90
　　　　　　　工作臺玻璃直徑：∮70
3、工作臺行程：　縱向：10mm　　橫向:10mm　　升降:12mm
　　　　　　　　　工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0～360º
4、儀器放大倍率：50×；物鏡放大倍率：2.5×投影物鏡放大倍率
　　　　　　　　 20×；光源（鹵鎢燈）；12V/100W
5、電源：220V/50Hz；重量:約18kg
6、外型尺寸：515×224×603mm（長×寬×高）

產(chǎn)品關鍵詞：CST-50型沖擊試樣缺口投影儀