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X熒光測厚儀又稱X射線熒光測厚儀，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。
X熒光鍍層測厚儀工作原理：通過高壓產(chǎn)生電子流打入到X光管中靶材產(chǎn)生初級X光，初級X光經(jīng)過過濾和聚集射入到被測樣品產(chǎn)生次級X射線，也就是我們通常所說的X熒光，X熒光被探測器探測到后經(jīng)放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計算機。計算機計算出我們需要的結(jié)果。
X熒光測厚儀的優(yōu)勢特點：
*超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面
*易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結(jié)果
*有助于識別鍍層成分的創(chuàng)新型功能
*機身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室
*按下按鈕的數(shù)秒之內(nèi)，即可得到有關(guān)樣件鍍層厚度的結(jié)果
*使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結(jié)果證書
*用戶通過攝像頭及艙內(nèi)照明系統(tǒng)，可看到樣件測試位置，提升了用戶測試信心
X熒光測厚儀應(yīng)用范圍：
X熒光測厚儀應(yīng)用范圍：
*合金分析
*鍍層厚度分析
*電鍍液金屬離子分析
*磁性介質(zhì)和半導體元素分析
*土壤污染元素分析
*過濾器上的薄膜元素分析
*塑料中的有毒元素分析
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