FT系列涂鍍層測厚儀旨在對(duì)生產(chǎn)質(zhì)量控制發(fā)揮關(guān)鍵作用，其在金屬飾面處理和電子市場中的具有廣泛應(yīng)用。FT110A 和 FT150 系列為復(fù)雜形狀的大型零件測量以及小型特征超薄涂層測量提供了新型解決方案。這兩種儀器均屬于臺(tái)式 EDXRF（能量色散X射線熒光）光譜儀，具有功能強(qiáng)大的軟件和硬件，旨在提高樣品分析量，任何操作員都可獲得高質(zhì)量的結(jié)果。

FT110A

FT150

輕松處理復(fù)雜樣品

FT110A 包含多個(gè)特征，用于測量通常難以處理的零件。可配置全封閉或開槽門的大型腔室，可裝入汽車零部件和裝飾五金件，與處理小型緊固件一樣容易。自動(dòng)對(duì)焦程序可以在離樣品表面 80mm 的位置進(jìn)行測量，非常適合測量凹陷區(qū)域或快速測量不同高度的多個(gè)零件。自動(dòng)接近功能提供一鍵式定位功能，可將X射線組件設(shè)置在理想距離，以獲得有復(fù)驗(yàn)性的結(jié)果。寬視角攝像頭將呈現(xiàn)整個(gè)樣品的圖像，以便輕松定位所需的測量位置。只需點(diǎn)擊圖像中的特征，它將自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)進(jìn)行分析。

測量納米級(jí)的涂層

FT150 配置組件，可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄涂層的元素分析。毛細(xì)聚焦管聚焦X射線束直徑小于20μm，實(shí)現(xiàn)在樣品上聚焦更大強(qiáng)度，并測量小于傳統(tǒng)準(zhǔn)直器可測量的特征。高靈敏度、高分辨率Vortex®硅漂移探測器（SDD）充分利用光學(xué)元件測量微電子設(shè)備和半導(dǎo)體上的納米級(jí)涂層。高精度載物臺(tái)和具備數(shù)字變焦功能的高清攝像頭可快速定位樣品特征，以提高樣品分析量。

日立分析儀器產(chǎn)品 Matt Kreiner 表示：“受到40年XRF鍍層測厚儀研發(fā)經(jīng)驗(yàn)啟發(fā)，F(xiàn)T110A 和 FT150 使用的智能功能解決了涂鍍層分析中zui難的一些挑戰(zhàn)。FT110A 的樣品處理能力和 FT150 的微焦分析能力補(bǔ)全了我們?nèi)淄垮儗訙y厚儀系列，我們很高興為客戶提供這些新型解決方案。”

關(guān)于日立高新技術(shù)公司

日立高新技術(shù)公司總部位于日本東京，從事科學(xué)和醫(yī)療系統(tǒng)、電子設(shè)備系統(tǒng)、工業(yè)系統(tǒng)和先進(jìn)工業(yè)產(chǎn)品等廣泛領(lǐng)域的活動(dòng)。公司2017財(cái)年的綜合銷售額約為6877億日元（約合63億美元）。

關(guān)于日立分析儀器公司

日立分析儀器是2017年7月成立并隸屬于日立高新技術(shù)集團(tuán)的性公司，總部位于英國牛津。其研發(fā)和生產(chǎn)運(yùn)營部門位于芬蘭、德國和中國，在許多國家可提供銷售和支持服務(wù)。我們的產(chǎn)品系列包括：

• FT系列、X-Strata 和 MAXXI 微焦斑 XRF 分析設(shè)備可測量單層和多層合金涂層厚度，可應(yīng)用于質(zhì)檢和過程控制和科研實(shí)驗(yàn)室。

• Lab-X5000 和 X-Supreme8000 臺(tái)式 XRF 分析儀可為石油、木材處理、水泥、礦物、采礦和塑料等多種行業(yè)提供質(zhì)量保證和過程控制。

• 我們的 PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER 和 TEST-MASTER 系列直讀光譜儀被世界各行各業(yè)用來進(jìn)行快速和的金屬分析。這些儀器采用光學(xué)發(fā)射光譜技術(shù)可測定所有重要元素，其檢測限低，精度高，包括鋼中的碳和幾乎所有金屬中所有技術(shù)相關(guān)的主要元素和微量元素。

• X-MET8000 手持分析設(shè)備，采用高精度 XRF 技術(shù)，可為很多行業(yè)提供簡單、快速和無損的合金分析，包括廢舊金屬分揀和金屬品級(jí)篩選。

• Vulcan 手持分析設(shè)備，采用 LIBS 激光技術(shù)，可一秒檢測金屬合金，為檢測量大的金屬行業(yè)客戶提供了*檢測解決方案。