掌上型光時(shí)域反射計(jì)采用了人性化的,的雙色雙料體化模具
掌上型光時(shí)域反射計(jì)是針對(duì)FTTx而的測(cè)試儀器。該產(chǎn)品主要用于測(cè)量光纖光纜的長(zhǎng)度、傳輸損耗、接頭損耗等光纖物理性,并能對(duì)光纖線路中的事件點(diǎn)、故障點(diǎn)準(zhǔn)確定位。廣泛應(yīng)用于光纖通信系統(tǒng)的程施、維護(hù)測(cè)試及緊急搶修;光纖光纜的研制與測(cè)試等。
外觀結(jié)構(gòu)采用業(yè)界為的雙色雙料體化模具,外觀新穎亮麗、堅(jiān)固耐用、操作非常方便,采用防反射LCD顯示,使得野外環(huán)境下操作界面清晰可見(jiàn),整機(jī)采用雙路供電方式,大容量鋰電池使整機(jī)的作時(shí)間長(zhǎng)達(dá)10小時(shí)以上,該產(chǎn)品具有兩種USB接口形式,既可接入U(xiǎn)盤(pán),也能通過(guò)USB數(shù)據(jù)線與PC機(jī)通信。同時(shí),為方便操作人員攜帶方便,該產(chǎn)品采用了更人性化的,為儀器配備了舒適的背帶。
主要點(diǎn):
● 掌上型、重量輕、便于攜帶
● 業(yè)界的雙色雙料體化防濺式模具,堅(jiān)固耐用
● 防反射LCD,野外環(huán)境下顯示界面清晰可見(jiàn)
● 1.6m短事件盲區(qū),測(cè)試光纖跳線輕松自如
● 具有自動(dòng)及手動(dòng)測(cè)試能
● 雙USB接口能,既可外接U盤(pán),也能通過(guò)SyncActive軟件與PC機(jī)通信
● 支持Bellcore GR196文件格式
● 智能電池電量示及電池低電壓告警能
● WinCE視窗操作系統(tǒng),中英文操作界面
● 10小時(shí)長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間,適于長(zhǎng)時(shí)間野外施
● VFL可視故障定位能
● OTDR光輸出頭采用可更換方式,端面清潔更加方便
● 短事件盲區(qū)
具有短的事件盲區(qū),尤其適于對(duì)短的光纖鏈路或光纖跳線的測(cè)試。
● 快速自動(dòng)測(cè)試
自動(dòng)測(cè)試能使得用戶了解更多的有關(guān)該儀器操作的細(xì)節(jié),測(cè)試步驟變得非常簡(jiǎn)單,只需要接入光纖、【測(cè)試】按鈕即可,儀器會(huì)自動(dòng)設(shè)置測(cè)試條件并終給出準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果,如測(cè)試曲線和事件列表等。
● 快速曲線分析
能夠快速準(zhǔn)確地查找出測(cè)試曲線中的事件點(diǎn)或故障點(diǎn)及其位置信息,并以事件表的形式列出線路中所有的事件信息,這對(duì)線路維護(hù)人員非常有用,既提測(cè)試效率,又了解煩瑣的背景知識(shí)。
曲線分析及事件列表
● 強(qiáng)的文件管理
具有強(qiáng)大的文件管理能,除了能對(duì)機(jī)內(nèi)或U盤(pán)的文件行存儲(chǔ)、瀏覽、刪除外,還能夠外接基于PCL語(yǔ)言的激光打印機(jī)或噴墨打印機(jī),以便打印測(cè)試報(bào)表。除此之外,AV6416還可借助SyncActiveSync軟件通過(guò)USB數(shù)據(jù)線與PC機(jī)速通信。
文件管理及數(shù)據(jù)傳輸
● 便利的VFL能
借助HAD-AV6416的可視紅光故障(VFL)能可以非常方便、快捷地發(fā)現(xiàn)短距離光纖鏈路中斷點(diǎn)或大的損耗點(diǎn)位置,以便維護(hù)人員及時(shí)采取措施,節(jié)省時(shí)間。
● 典型應(yīng)用
掌上型光時(shí)域反射計(jì)主要用于對(duì)FTTx網(wǎng)路的測(cè)試。該產(chǎn)品為用戶提供了種低成本的測(cè)試方案,具有手動(dòng)測(cè)試(實(shí)時(shí)測(cè)試、平均測(cè)試)、自動(dòng)測(cè)試和盲區(qū)測(cè)試3種模式。
手動(dòng)測(cè)試模式:該測(cè)試模式適于那些對(duì)該儀器了解的熟練操作者,因此能夠得到更加準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。在手動(dòng)測(cè)試模式中,用戶可根據(jù)測(cè)試需要選擇實(shí)時(shí)測(cè)試模式或平均測(cè)試模式。
實(shí)時(shí)測(cè)試可快速檢測(cè)光纖鏈路的動(dòng)態(tài)變化,應(yīng)用于需要實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)或觀察光纖鏈路的對(duì)接過(guò)程及效果。
平均測(cè)試模式可以盡大可能地抑制測(cè)試曲線中的噪聲,從而得到更加的測(cè)試結(jié)果。在平均測(cè)試模式中,平均次數(shù)越大,則對(duì)噪聲的抑制效果越好,但測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)的加長(zhǎng),因此,在實(shí)際使用中,可根據(jù)需要靈活設(shè)置平均次數(shù)。
自動(dòng)測(cè)試模式:該模式下,儀器能夠自動(dòng)設(shè)置測(cè)試條件,并給出測(cè)試結(jié)果,操作者了解復(fù)雜的背景知識(shí)和有關(guān)儀器操作的細(xì)節(jié)。為了提自動(dòng)測(cè)試的度,可以適當(dāng)加大自動(dòng)測(cè)試時(shí)的平均次數(shù),但將延長(zhǎng)自動(dòng)測(cè)試的時(shí)間。
盲區(qū)測(cè)試模式:該模式適用于對(duì)短距離光纖的測(cè)試,如測(cè)試光纖跳線的長(zhǎng)度等,在該模式下,如希望儀器獲得好的測(cè)試結(jié)果,要求被測(cè)光纖末端的反射損耗(或稱回波損耗)大于40dB。
相關(guān)產(chǎn)品
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