影響磁性涂層測(cè)厚儀測(cè)量因素有哪些

1，基體金屬磁性變化。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
2，測(cè)量基體金屬厚度，基體金屬有一定臨界厚度，超過(guò)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
3，邊緣效應(yīng)，在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不的，校對(duì)試片盡量在試片中間以減少誤差。
3，測(cè)量件曲率，試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
5，被測(cè)物體表面粗糙度，基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
6，磁場(chǎng)，被測(cè)物體周圍磁場(chǎng)會(huì)干擾磁性測(cè)量，影響涂層測(cè)厚儀精度。
7，附著物質(zhì)，本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
8，測(cè)量過(guò)程中探頭的放置，探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。這是涂層測(cè)厚儀（其他測(cè)厚儀，如超聲波測(cè)厚儀也是這樣）測(cè)量中要注意的問(wèn)題。
9，試片的變形及試片本身的誤差，探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)一定的誤差。
10，測(cè)量次數(shù)，對(duì)于數(shù)據(jù)要求經(jīng)度比較高的測(cè)量要實(shí)行多次測(cè)量求平均值，精度要求更高的可以多臺(tái)儀器測(cè)量求平均值。
11，還有一些其它不確定因素。