其中許多鑄造廠依賴于直讀光譜儀（OES）。要從OES中獲得佳分析結果，需要對抗“漂移”過程，或者儀器靈敏度的緩慢變化，這可能會影響分析結果。

保持光譜儀的準確度和精密度意味著要管理這種漂移，您如何以有效和經(jīng)濟的方式做到這一點？日立分析儀器的OES光譜儀系列旨在確保輕松避免漂移，從而讓您專注于創(chuàng)造高質量產(chǎn)品。

漂移的原因是什么？

所有OES儀器對環(huán)境因素非常敏感，這些因素會隨著時間的推移影響其讀數(shù)的準確性。氣壓和溫度的波動是造成這種漂移的主要原因。儀器在其運行環(huán)境中位置引起的震動是常見原因，盡管日立機器的設計是為了消除這一點。 

和環(huán)境因素一樣，部件老化、光學平面受污染或吹掃氣體或真空度的變化都會誤導分析結果。如果您的質量依賴于產(chǎn)品的確切化學成分，這些影響因素可能是一個大問題。

重新校準變得簡單

在持續(xù)使用一段時間后，重新校準會使火花直讀光譜儀恢復到佳性能。但漂移并未得到解決，這會導致讀數(shù)不準確。這其中的困難是，并無跡象表明出了什么問題。

OES隨時可以使用監(jiān)控樣品。理想情況下，這些樣品應盡可能接近您實際使用的工藝材料。

火花直讀光譜儀可以執(zhí)行這些操作，從而消除以一定時間間隔重新校準的需要。過去，重新校準只是按預定間隔進行。事實上，一些公司目前仍然這樣做。這意味著OES性能可能會在未探測到的情況下大幅漂移。使用高質量的儀器體檢記錄可以跟蹤你的OES的健康狀況。除此之外，使用監(jiān)控樣品還可以驗證儀器是否能夠用于審核。

日立分析儀器解決方案

對于試圖解決漂移的OES生產(chǎn)商來說，他們只有兩種選擇。OES生產(chǎn)商可以在操作環(huán)境溫度和壓力不變的情況下進行分析。問題是這兩種方法都意味著更高的運行成本。

日立分析儀器的OES光譜儀不需要操作者擁有昂貴的材料或高的運行成本。我們設計的儀器比競爭對手更、更經(jīng)濟、更智能。

我們光學系統(tǒng)的總波長范圍為130至800nm，這使得操作員很容易發(fā)現(xiàn)初漂移的信號并糾正問題。因此，在每次分析期間，我們可自動監(jiān)控和校正所有相關通道的光譜位置。只要OES本身得到良好維護，漂移就不會導致成本飆升。

日立分析擁有超過45年的金屬行業(yè)經(jīng)驗，能夠充分利用分析儀。我們的團隊可以確保您的OES光譜儀繼續(xù)以其設計的水平工作，并長期為您的操作增加價值。