如果未定期對(duì)OES進(jìn)行驗(yàn)證、維護(hù)和重新校準(zhǔn)，則其性能可能會(huì)開(kāi)始下降。當(dāng)您的業(yè)務(wù)成敗取決于于您的終產(chǎn)品質(zhì)量以及對(duì)確切化學(xué)成分的嚴(yán)格控制時(shí)，則需要對(duì)失準(zhǔn)分析進(jìn)行快速補(bǔ)救。

由于火花光譜儀使用相對(duì)測(cè)量而非測(cè)量，因此準(zhǔn)確測(cè)定受分析物質(zhì)的濃度或數(shù)量非常重要。這就需要校準(zhǔn)和有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（CRMs）發(fā)揮作用。

在某些情況下，由于不同的原因，對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)可能無(wú)法滿足您對(duì)準(zhǔn)確度的要求。為使OES光譜儀的準(zhǔn)確度達(dá)到您所需的水平，可能需要進(jìn)行類型標(biāo)準(zhǔn)化。

您是否需要進(jìn)行類型標(biāo)準(zhǔn)化？

此處大的問(wèn)題是：盡管使用了大量的CRMs進(jìn)行校準(zhǔn)，您是否仍能看到偏差？

出現(xiàn)此種情況的原因有很多：

•     大多數(shù)CRM是合成制造的。這意味著無(wú)法保證其與待分析樣品的成分或結(jié)構(gòu)相匹配。

•     光譜外來(lái)端上的合金經(jīng)常會(huì)與基體材料發(fā)生嚴(yán)重偏離。

問(wèn)題也可能在于光譜儀本身的狀態(tài)。您可能對(duì)OES的要求過(guò)高，您所需的準(zhǔn)確度高于儀器校準(zhǔn)。您也可能會(huì)感受到漂移效應(yīng)，隨著時(shí)間的推移，這種儀器靈敏度的緩慢變化會(huì)導(dǎo)致您的結(jié)果失真。

日立分析儀器直讀光譜儀系列的總波長(zhǎng)覆蓋范圍介于130至800nm之間，使其很容易獲得潛在破壞性漂移的早期指標(biāo)。同時(shí)其也會(huì)自動(dòng)監(jiān)測(cè)所有相關(guān)通道的光譜位置，因此在每次分析期間均會(huì)進(jìn)行校正。

雖然這些措施極大地提高了OES光譜儀的穩(wěn)定性，但其也偶爾需要進(jìn)行類型標(biāo)準(zhǔn)化。如果您使用日常監(jiān)控樣品來(lái)詳細(xì)觀察光譜儀的性能，您將迅速發(fā)現(xiàn)這一點(diǎn)，從而將生產(chǎn)中斷降到低值。

類型標(biāo)準(zhǔn)化的優(yōu)點(diǎn)

如果您的OES受到上述任何因素的影響，則類型標(biāo)準(zhǔn)化可幫助您在標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的基礎(chǔ)上更大程度地提高OES結(jié)果的準(zhǔn)確度。但需要注意，其僅適用于校正成分與類型標(biāo)準(zhǔn)化樣品相似的未知材料。

應(yīng)在操作同一合金類型的一個(gè)或多個(gè)樣品之前進(jìn)行類型標(biāo)準(zhǔn)化過(guò)程。這將使您能夠真正地對(duì)計(jì)算進(jìn)行微調(diào)。一旦您獲得了合適的樣品，您需要在開(kāi)始之前用CRM檢查基本校準(zhǔn)的佳準(zhǔn)確度。正如使用監(jiān)控樣品進(jìn)行重新校準(zhǔn)時(shí)一樣，您也需要確保已備好大量近期制備的易于測(cè)量的材料。

盡管如此，類型標(biāo)準(zhǔn)化決不能用作分析具有顯著不同化學(xué)成分的材料的全面校正方法（這就是其稱為類型標(biāo)準(zhǔn)化的原因）。

獲得OES佳性能的關(guān)鍵在于了解光譜儀的工作原理以及長(zhǎng)期影響它的因素。OES光譜儀的靈敏度是其一大優(yōu)勢(shì)，但也是由操作員粗心導(dǎo)致其所得結(jié)果失真的事因。

日立分析儀器OES光譜儀的設(shè)計(jì)旨在穩(wěn)定耐用。如果您使用監(jiān)控樣品定期監(jiān)測(cè)光譜儀的性能，這種潛在的穩(wěn)定性表明您可校正任何失衡現(xiàn)象，隨后進(jìn)入所需的全面類型標(biāo)準(zhǔn)化階段。

日立分析儀器OES光譜儀系列積累了45年多的經(jīng)驗(yàn)和專業(yè)知識(shí)，旨在增加產(chǎn)業(yè)運(yùn)營(yíng)的價(jià)值，而非降低其效率。針對(duì)各類質(zhì)量控制需求，我們均有信心為您的業(yè)務(wù)找到合適的解決方案。