吉時(shí)利發(fā)布半導(dǎo)體測試軟件的升級(jí)版KTE 5.3

 美國俄亥俄州克利夫蘭，2011年9月19日訊–先進(jìn)電氣測試儀器與系統(tǒng)的領(lǐng)導(dǎo)吉時(shí)利儀器公司發(fā)布了獲得業(yè)界好評(píng)的吉時(shí)利測試環(huán)境（KTE）半導(dǎo)體測試軟件的升級(jí)版。KTE V5.3是專為配合吉時(shí)利迄今為止快、經(jīng)濟(jì)有效的過程控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線S530參數(shù)測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)的。

KTE是一款強(qiáng)大的測試開發(fā)和運(yùn)行軟件平臺(tái)，有數(shù)百家半導(dǎo)體晶圓廠都在使用吉時(shí)利前幾代的參數(shù)測試系統(tǒng)。現(xiàn)在，吉時(shí)利的S530測試系統(tǒng)利用這個(gè)被業(yè)界長期驗(yàn)證的軟件平臺(tái)在苛刻的生產(chǎn)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)了靈活的測試計(jì)劃開發(fā)和高速測試。現(xiàn)有吉時(shí)利S400和S600系列參數(shù)測試儀用戶將特別受益于S530系統(tǒng)上的KTE V5.3，因?yàn)榭梢詫⒓扔袦y量程序輕松地移植到S530，而且現(xiàn)有測試儀和新的S530系統(tǒng)可以共享同一個(gè)測試計(jì)劃。

將KTE測試開發(fā)和運(yùn)行環(huán)境擴(kuò)展至S530系統(tǒng)結(jié)合了吉時(shí)利30年的參數(shù)測試代碼開發(fā)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和市場上快進(jìn)的系統(tǒng)硬件優(yōu)勢。S530儀器提供過程控制監(jiān)控等參數(shù)測試應(yīng)用要求的高速度和寬測量范圍。

吉時(shí)利致力于讓新測試系統(tǒng)高度兼容較早的系統(tǒng)支持吉時(shí)利參數(shù)測試客戶。保持軟件兼容性的承諾確保了移植路徑更為平滑并能在測試平臺(tái)上加入更新、更高速測試儀以保護(hù)晶圓廠的測試軟件投資。對(duì)于吉時(shí)利參數(shù)測試的新客戶，恪守系統(tǒng)軟件連續(xù)性的承諾意味著客戶會(huì)對(duì)基于業(yè)界長期驗(yàn)證軟件的測試系統(tǒng)充滿信心。



對(duì)于已經(jīng)使用KTE較早版本的客戶來說，KTE V5.3加速并簡化了S530測試系統(tǒng)到測試平臺(tái)的集成。

• 同一種測試方法和測試方案適用于所有吉時(shí)利自動(dòng)參數(shù)測試系統(tǒng)，這不僅縮短了使用多個(gè)系統(tǒng)的測試工程師和操作人員的學(xué)習(xí)過程，而且在測試平臺(tái)增加新的高速系統(tǒng)或取代較早平臺(tái)時(shí)提供平滑的移植路徑以保護(hù)晶圓廠的測試開發(fā)投入。

• 用戶只需重新編譯和重新生成多年來為更早的吉時(shí)利系統(tǒng)開發(fā)的常用用戶庫，就能繼續(xù)在S530上使用這些用戶庫。通常，只需進(jìn)行少量調(diào)試。

• KTE V5.3簡化了創(chuàng)建條件測試序列的新用戶訪問點(diǎn)（UAP）源代碼以及定制S530的系統(tǒng)工作流程。為早期吉時(shí)利系統(tǒng)開發(fā)的UAP源代碼適用于S530系統(tǒng)，只需作少量調(diào)整。

• KTE的工具對(duì)吉時(shí)利所有參數(shù)測試平臺(tái)都具有*相同的功能性。

面向S530的KTE適于在標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)PC的Linux操作系統(tǒng)上運(yùn)行以確保長期穩(wěn)定性和易于維護(hù)性。該軟件已針對(duì)高吞吐率生產(chǎn)測試環(huán)境作了速度和擴(kuò)展可靠性的優(yōu)化。運(yùn)行KTE V5.3的S530系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)過程控制監(jiān)控、過程可靠性監(jiān)控和器件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。S530系統(tǒng)針對(duì)必須適應(yīng)廣泛產(chǎn)品組合的生產(chǎn)參數(shù)測試環(huán)境，或者在寬范圍應(yīng)用靈活性和快速測試方案開發(fā)等至關(guān)重要的場合中的使用進(jìn)行了優(yōu)化。