梅特勒天平作為實驗室常用基礎(chǔ)儀器,其作用主要是稱量物體質(zhì)量,想要實驗結(jié)果更加準確可靠,實驗中樣品的量必須準確。為了保證實驗結(jié)果的準確性,必須保證梅特勒電子天平測量的準確度,在使用前或測量環(huán)境改變后都要進行校準操作。下面,我們就來看看梅特勒電子天平如何校準。
梅特勒電子天平有內(nèi)校和外校兩種校準方式。
1. 內(nèi)校:內(nèi)校型梅特勒天平使用方便,但價格稍高。校準時只需長按CAL鍵就可以完成校準過程。內(nèi)校型電子天平如梅特勒型分析天平(AB-S/FACT系列),如圖1.
特勒型分析天平(AB-S/FACT系列)
2. 外校:外校型梅特勒天平對砝碼要求較高,砝碼有灰塵、磨損時都會對校準結(jié)果產(chǎn)生影響。校準時先按CAL鍵,直到顯示屏上顯示CAL-,再把標準砝碼放入天平秤盤上,完成校準過程。例如,顯示屏出現(xiàn)CAL-100時,把 100g標準砝碼放入稱盤,隨后顯示屏出現(xiàn)“----”等待狀態(tài),當顯示屏出現(xiàn)100.000g時,取走標準砝碼,此時顯示屏應顯示0.000g,若讀數(shù) 不為零,則清零后再次進行校準操作以完成校準過程。外校型梅特勒天平如梅特勒XP超越系列分析天平,如圖2.
梅特勒XP超越系列分析天平
需要注意的是,梅特勒電子天平的準確度和內(nèi)校、外校沒有直接的關(guān)系,還應綜合考慮其它技術(shù)指標來選購合適的梅特勒電子天平。
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