分布假設(shè)的選擇

在選擇試驗方案時，無論選擇定時截尾試驗方案、定數(shù)截尾試驗方案或概率比序貫試驗 方案中的哪一種，首先應(yīng)假設(shè)設(shè)備的失效隨時間的分布規(guī)律是服從什么樣的分布規(guī)律。一般 應(yīng)考慮選擇下列的分布形式。

指數(shù)式分布：在失效率是一個常數(shù)時使用。就許多設(shè)備來說，早期失效區(qū)(失效率下降） 之后和耗損失效區(qū)（失效率上升）之前有一個偶然失效區(qū)，設(shè)備在這個區(qū)域工作時，失效率 是一個常數(shù)。一般情況下，設(shè)備在經(jīng)過一段時間的使用、維修保養(yǎng)之后，性能比較穩(wěn)定，在 一個相當長的時間內(nèi)失效率是恒定的。

威布爾分布：在失效率是增長的或下降的時期使用。復(fù)雜設(shè)備的失效率可以是下降的， 然而，具有耗損機理的設(shè)備和不可修復(fù)的貯存單元比重比較大的設(shè)備的失效率卻是增長的。 因此，威布爾分布在很多場合下應(yīng)用是有的。然而就統(tǒng)計程序來說，這種分布不如指數(shù)分布 和正態(tài)分布應(yīng)用那么廣泛。

正態(tài)分布：當失效率是增長的，而且失效隨時間的分布規(guī)律近似于高斯分布時使用。盡 管經(jīng)過適當?shù)剡x擇參數(shù)，可以用威布爾分布近似地代替正態(tài)分布。然而，還是采用正態(tài)分布 要比威布爾分布*痹多，因為在瘕設(shè)正態(tài)分布的基礎(chǔ)上很多統(tǒng)計方法都可以利用。

對于電子設(shè)備來說，根據(jù)國內(nèi)外大量的實踐經(jīng)驗證明；一般電子設(shè)備通過老嫌措施或經(jīng) 過一段使用期后，基本上是服從指數(shù)分布的。因此，本書介紹的甙驗方案的設(shè)計方法，推薦 的標準型試驗方案，以及設(shè)備可靠性試驗驗證值的計算方法，都是基于失效隨時間的分布規(guī) 律服從指數(shù)分布這一假設(shè)的。就是認為設(shè)備在搞然失效區(qū)工作，設(shè)備可靠度函數(shù)是指數(shù)律 的。如果不是假詼它服從指數(shù)分布，試驗方案的設(shè)計方法，判決標準及所需求的試驗時間， 以及試驗的觀rBF值的計算方法，也都不一樣了。關(guān)于非指數(shù)分布的試驗方桊的設(shè)計及驗 證值的計算方法等，目前電工委員會的有些工作組及我國的有關(guān)部門正在研制中。