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顆粒碰撞噪聲檢測儀應用于類電子和機械類產(chǎn)品的設計開發(fā)、測試和程序改進。
顆粒碰撞噪聲檢測儀（SD PIND）用于電子元器件封裝后，對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的多余粒子，是一種非破壞性實驗。
顆粒碰撞噪聲檢測儀適用范圍：用于檢測集成電路、繼電器、半導體分立器件、光電器件等電子
元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒，即PIND試驗。
雙面聲藕合膠片和聲藕合膠水是用于顆粒碰撞噪聲檢測儀實驗時使用的。
標準：MIL-STD883E, MIL-STD750, and MIL-STD39016和國軍標。
指標：
型 號：ZH-4511L、ZH-4511L-R
組 成：控制儀、振動臺、示波器、傳感器等
大載荷：400g（25Hz~250Hz）、500g（60Hz時）
沖擊加速度：100g~3000g、100g~800g
振動頻率：25Hz~250Hz
振動加速度：0.1g~25.5g
噪聲傳感器靈敏度：-77.5±3（DBD）relv（1bar,155kHz）
外形尺寸（高×寬×深）：主機250mm×650mm×450mm
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