有關(guān)覆層無(wú)損檢測(cè)方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線反射法可以無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍小。因有放射源，故使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測(cè)量。電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測(cè)試上應(yīng)用。磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法，隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微處理機(jī)技術(shù)后，測(cè)厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實(shí)用化方面邁進(jìn)了一大步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1μm，精度可達(dá)到1%。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便、價(jià)廉等特點(diǎn)。是工業(yè)和科研使用很廣泛的儀器。采用無(wú)損檢測(cè)方法測(cè)厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，故能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。

磁吸引測(cè)量方法：
一、磁吸力原理麥考特測(cè)厚儀利用*久磁鐵測(cè)頭與導(dǎo)磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系可測(cè)量覆層的厚度，這個(gè)距離就是覆層的厚度，所以只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可以進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成形，所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用很廣。篤摯儀器測(cè)量?jī)x基本結(jié)構(gòu)是磁鋼，拉簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)。當(dāng)磁鋼與被測(cè)物吸合后，有一個(gè)彈簧在其后逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大，當(dāng)拉力鋼大于吸力磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。一般來(lái)講，依不同的型號(hào)又不同的量程與適應(yīng)場(chǎng)合。在一個(gè)約350o角度內(nèi)可用刻度表示0～100μm;0～1000μm;0～5mm等的覆層厚度，精度可達(dá)5%以上，能滿足工業(yè)應(yīng)用的一般要求。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單、強(qiáng)固耐用、不用電源和測(cè)量前的校準(zhǔn)，價(jià)格也較低，很適合車(chē)間作現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。

使用和保存Mikrotest 麥考特G6 測(cè)厚儀時(shí)必須注意：
◆ 保證測(cè)厚儀遠(yuǎn)離*久磁鐵或電磁鐵， 遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)；
◆ 測(cè)厚儀節(jié)勿猛烈碰撞；
◆ 測(cè)厚儀用完后將指輪逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)， 停在滿刻度附近后再放入手提箱；
◆ 盡管Mikrotest 測(cè)厚儀非常結(jié)實(shí)， 也要象使用其它精密儀器一樣， 小心加以愛(ài)護(hù)。

備選件
EPK 針對(duì)Mikrotest 測(cè)厚儀可提供以下備選件：
◆ 厚度標(biāo)準(zhǔn)板， 用于檢驗(yàn)測(cè)厚儀；
◆ 布背包， 可在高空作業(yè)時(shí)使用；
◆ 濕膜測(cè)厚儀， 用來(lái)測(cè)量濕涂層。