干燥箱溫度均勻度測(cè)試及溫度波動(dòng)度測(cè)試

溫度均勻度測(cè)試及溫度波動(dòng)度測(cè)試：

      測(cè)定干燥箱有效試驗(yàn)空間內(nèi)任一點(diǎn)的溫度值是采取在干燥箱中布放一定數(shù)量測(cè)試元件的方法進(jìn)行。有效試驗(yàn)空間是指干燥箱內(nèi)能夠保證試驗(yàn)條件，允許放置受試樣品的空間。即外層溫度測(cè)定點(diǎn)所限定的空間。

測(cè)試用儀器：

      采用由鉑電阻、分度號(hào)為T(mén)型的熱電偶、半導(dǎo)體感溫元件或其他類(lèi)似傳感器組成的測(cè)溫系統(tǒng)。其技術(shù)要求為：傳感器時(shí)間常數(shù)不大于20秒；測(cè)溫系統(tǒng)的密度在200℃以下時(shí)為±0.2℃，200℃以上為±0.3℃，并具有有效的合格證書(shū)和誤差修正值。

測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量及其布放位置：

       一般將試驗(yàn)箱內(nèi)空間分為上、中、下三層。上層與工作室頂面的距離為工作室高度的十分之一，中層通過(guò)工作室?guī)缀沃行?，下層在低層面樣品架上?0mm處。測(cè)試點(diǎn)位于三個(gè)測(cè)試面上，在每層均按對(duì)稱(chēng)位置布放溫度測(cè)定點(diǎn)，除中心點(diǎn)位于工作室的幾何中心上。

工作室容積≤1m2 時(shí)，測(cè)試點(diǎn)一般為9個(gè)。布放位置如下圖所示：

      上層 中層 下層

      溫度測(cè)定點(diǎn):A、B、C、D、O、Q、R、U、V共9個(gè).

      工作室容積>1---10 m2 時(shí),測(cè)試點(diǎn)一般為13個(gè),布放位置如下圖所示:

      上層 中層 下層

      溫度測(cè)定點(diǎn):A、B、C、D、H、K、O、L、N、Q、R、U、V共13個(gè)點(diǎn).

測(cè)試步驟:

      在干燥箱溫度可調(diào)范圍內(nèi),選取-高標(biāo)稱(chēng)溫度或受檢用戶(hù)常用溫度及要求溫度作為測(cè)試溫度.

在工作空間中心測(cè)試點(diǎn)的溫度*達(dá)到測(cè)試溫度并穩(wěn)定2h后,每隔2min測(cè)試所有點(diǎn)的溫度,共測(cè)4—15次,作為溫度均勻度的檢測(cè)數(shù)據(jù).找出中心測(cè)試點(diǎn)每次溫度波動(dòng)期間的高溫度與低溫度值作為溫度波動(dòng)度的數(shù)據(jù).

測(cè)試結(jié)果的計(jì)算與評(píng)定:

       利用測(cè)得的4---15次的測(cè)試數(shù)據(jù),求出每次測(cè)試中高與低溫度之差的算術(shù)平均值,作為該標(biāo)稱(chēng)溫度下的溫度均勻度;求出中心測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試值中高與低溫度之差的二分之一,加±號(hào),為該標(biāo)稱(chēng)溫度下的波動(dòng)度.

      溫度均勻度的測(cè)試結(jié)果應(yīng)不大于2.0℃.

      溫度波動(dòng)度的測(cè)試結(jié)果應(yīng)不大于±0.5℃.